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          [討論] 關于新標準的IIA IIIA試塊問題。

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          樓主
          查看3623 | 回復4 | 2015-9-6 20:49:42 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
          本帖最后由 zhishixiang 于 2015-9-6 20:51 編輯

          新修訂的標準里面把IIIA放在了附錄O,現在出現問題就是IIA試塊在前面好多同學會以為IIIA的廢除了。
          還有就是下面圖片中的問提。
          在8~120范圍內,IIA 跟IIIA的靈敏度是不是一樣。


          新標準的IIA IIIA靈敏度




          舊標準的靈敏度


          對比發現只是厚度增加了。靈敏度加了比較厚的部分。

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          沙發
          YL60007 | 2015-9-15 09:20:59 | 只看該作者
          這里是不是可以理解為工件厚度8至120mm時優先選用CSK-ⅢA試塊。
          板凳
          小王 | 2015-9-15 13:00:54 | 只看該作者
          我想應該是可靠性好,CSK-ⅡA試塊的反射孔長40,容易調DAC,人的影響因素可能少些。CSK-ⅢA試塊我想目前大多數企業現有的,用的比較上手,但從發展趨勢看:05版CSK-ⅡA作為備選,15版主推,下版可能******會被淘汰的。
          探頭的技術指標也越來越重視,目前相同型號(頻率、晶片尺寸、角度)經測試相差太大,廠家也不檢測就出廠。15版就重視了許多。
          標準講求一致性,大家按標準做,結果應該盡量一致。采用CSK-ⅡA從人員對比上可靠性好,探頭晶片尺寸大(如20*20)從人員對比上可靠性也比小晶片好,
          地板
          小王 | 2015-9-15 13:03:41 | 只看該作者
          補充:會被淘汰的是CSK-ⅢA試塊

          點評

          確實如此  發表于 2015-9-15 20:17
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