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          [討論] 儀器的掃查靈敏度不變,改換不同頻率探頭,...

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          查看59209 | 回復14 | 2013-3-16 11:25:27 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
          本帖最后由 李濟科 于 2013-3-16 16:05 編輯

              例如,原來的掃查靈敏度是頻率為2.5MHz的直探頭,發現缺陷當量為2mm;后來換成2MHz1.25MHz,但距離波幅曲線未變(還是2.5MHz探頭的),儀器的掃查靈敏度未變(發射強度,增益衰減等狀態未變)。請問: 檢測結果---缺陷當量,可能會出現什么變化呢?(謝謝下面這位朋友,根據他的回復,我進行了修改)
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          kgkevin | 2013-3-18 16:18:39 | 只看該作者
          李濟科 發表于 2013-3-18 16:13
          我發這個帖子的目的,是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子,即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對 ...

          我換不同頻率探頭的時候,AVG曲線是按照當前探頭分別制作的。
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          本帖最后由 幻想一席微涼 于 2013-3-16 12:48 編輯

          近場區變大,分辨力變差,最小可檢出的缺陷大小變大(這里的大小應該是垂直于超聲傳播方向的缺陷大?。?/td>
          地板
          丁偉臣 | 2013-3-17 19:12:00 | 只看該作者
          不變!{:soso_e100:}
          偉臣答疑回來啦!
          5#
          luolang1314 | 2013-3-17 21:44:57 | 只看該作者
          本帖最后由 luolang1314 于 2013-3-17 21:46 編輯

          同晶片尺寸的探頭,近場區變小才是。探頭檢出的缺陷的理論最小尺寸變大,但是實際缺陷檢出情況,則視待檢材料晶粒尺寸和探頭頻率“匹配”情況而定。對于粗晶材料,有文獻指出,波長大于十倍平均晶粒尺寸為可檢條件。
          6#
          糟老頭子 | 2013-3-18 00:30:39 | 只看該作者
          本帖最后由 糟老頭子 于 2013-3-18 15:51 編輯
          丁偉臣 發表于 2013-3-17 19:12
          不變!


          頻率變小↓>波長變長↑近場區變小↓>聲束擴散角變大↑>橫向分辨率變差↓>理應回波降低↓;
          但是頻率變小↓>也伴隨著衰減變小↓>,回波又有可能升高↑。
          所以可能出現不同情況。
          丁工:不變的原因可以解釋下嗎?如果不變那我們豈不是可以對多個探頭只做一個dac曲線?

          近場區變小,已改正!
          我們都是在孤單中執著行走的孩子!
          7#
          李濟科 | 2013-3-18 10:55:48 | 只看該作者
          本帖最后由 李濟科 于 2013-3-18 11:07 編輯

          謝謝以上朋友參與討論!尤其謝謝楓林晚先生的實驗??!關鍵問題是:怎么用理論來解釋他這個實驗?
          8#
          kgkevin | 2013-3-18 14:33:42 | 只看該作者
          是不是跟計算公式有關系
          9#
          李濟科 | 2013-3-18 16:01:28 | 只看該作者
          楓林晚先生的觀點,基本正確。希望去查查平底孔反射聲壓公式,詳細說明。
          10#
          李濟科 | 2013-3-18 16:13:05 | 只看該作者
          我發這個帖子的目的,是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子,即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響》。
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