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          [請教] 筒形鍛件檢測中,如何測定由缺陷引起的底波降低量

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          查看5039 | 回復1 | 2012-12-12 22:10:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
               丁老師:
                        1. 在筒形鍛件檢測中,Φ900/Φ700×500,探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在周向(凸面)和端面檢測。探頭在周向檢測,檢測面和底面均為曲面,材質衰減系數如何測定?
                        2.探頭在端面檢測,底面反射面不夠大,材質衰減系數如何測定?
                        3.在檢測時,周向和端面均發現有超標缺陷(不是同一個),缺陷深度:a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何測定?
                       4.雙晶直探頭是否可測定由缺陷引起的底波降低量如何測定?
          沙發
          糟老頭子 | 2012-12-13 09:54:59 | 只看該作者
          一次底波減去二次底波的DB差除以2倍板厚
          我們都是在孤單中執著行走的孩子!
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