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[請教] 減少曝光時間,可以減小散射線的影響么?

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樓主
查看42376 | 回復21 | 2012-2-28 16:59:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
懸賞5金幣未解決
經常在文章資料中,看到這么一句話“減少曝光時間,可以減小散射線的影響”。這句話正確么?

沙發
大俠 | 2012-2-28 17:22:34 | 只看該作者
這句話不正確吧。

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板凳
丁偉臣 | 2012-2-28 20:50:26 | 只看該作者
{:soso__5663373028670280397_3:}
偉臣答疑回來啦!
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地板
NDT無損檢測 | 2012-2-29 08:14:00 | 只看該作者
我想是不對的!
工作是友誼的橋梁!
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5#
阿德哥 | 2012-3-1 12:40:36 | 只看該作者
我認為是正確的。“可以”減小在實踐中能體現。不防護的情況下我拍過46厚的縱縫420千伏2分鐘底片合格,做了件呆事350千伏7分鐘就發現有散射線影響。
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6#
橙子 | 2012-3-2 11:02:12 | 只看該作者
“減少曝光時間,可以減小散射線的影響”。應該這樣理解:當射線檢測工藝參數符合射線技術等級、底片要求時,采用最小的曝光時間。
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7#
云中漫步 | 2012-3-5 13:05:10 | 只看該作者
橙子 發表于 2012-3-2 11:02
“減少曝光時間,可以減小散射線的影響”。應該這樣理解:當射線檢測工藝參數符合射線技術等級、底片要求時 ...

同意{:soso_e163:}
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8#
okwxb | 2012-3-10 17:12:46 | 只看該作者
不正確{:soso_e183:}
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9#
丁偉臣 | 2012-3-10 18:09:56 | 只看該作者
散射線分為兩個部分:來自工件的和透照場所反射的散射線。一般后者可通過屏蔽屏或減少透照場解決問題,而來自工件本身的散射線是不容易去除的。根據三大效應作用機理和大致的能量范圍,常規射線檢測電壓在100~300KV對應的康普頓散射占主流,故檢測中對比度將受到散射線的削弱影響。此時使用鉛增感屏,一方面由于光電效應產生大量的光電子,有利于曝光,同時過濾來自工件本身的散射線。
從此看,曝光時間并不影響我們的散射線。
偉臣答疑回來啦!
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10#
李濟科 | 2012-3-11 16:20:20 | 只看該作者
同意丁工意見!迄今為止,在國際國內權威資料上,找不到時間影響散射線的內容!
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