筒形鍛件檢測(cè)中，如何測(cè)定由缺陷引起的底波降低量

     丁老師：
              1. 在筒形鍛件檢測(cè)中，Φ900／Φ700×500，探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在周向（凸面）和端面檢測(cè)。探頭在周向檢測(cè)，檢測(cè)面和底面均為曲面，材質(zhì)衰減系數(shù)如何測(cè)定？
              2.探頭在端面檢測(cè)，底面反射面不夠大，材質(zhì)衰減系數(shù)如何測(cè)定？
              3.在檢測(cè)時(shí)，周向和端面均發(fā)現(xiàn)有超標(biāo)缺陷（不是同一個(gè)），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何測(cè)定？
             4.雙晶直探頭是否可測(cè)定由缺陷引起的底波降低量如何測(cè)定？

一次底波減去二次底波的DB差除以2倍板厚