直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響

不知道大家有沒有遇到過這種情況，鍛件中的一個缺陷，2.5MHZ的直探頭探測缺陷當量1mm不注意的話幾乎看不到缺陷幾乎被埋藏在雜波中了，改用2MHZ直探頭探測非常明顯的缺陷波，為2mm當量，1.25MHZ直探頭探測為4mm當量，這是怎么回事，究竟以哪個探頭來定量缺陷大小。請大家不吝賜教！


上圖片，大家看下，現在究竟如何定量和定性缺陷，望高人指點。另外，探頭在工件上左右移動時波形無明顯變化。

一般探頭的頻率決定了可探測到缺陷的最小尺寸。如你所用的2.5M探頭可檢測到的最小尺寸約為半波長1.18mm 當量大小的缺陷；2M約為1.5mm;1.25M約為4.72mm;所以你觀察到的情況，還是符合實際情況的。
所以判定缺陷大小需要用參考試塊進行比較。一般用2.5M探頭，fai2 當量的參考試塊進行定量就可以了。

鍛件缺陷定當量 對于同一個缺陷來說用不同頻率探頭對缺陷定量不應該出現較大偏差（探頭其它參數不變只改變頻率），具體分析一下出現較大偏差的原因。
1. 頻率改變后探頭的近場區長度 跟 半擴散角 會發生改變  
因此 由于干涉影響近場區內存在聲壓極大極小值 三倍近場區以內計算法是不能比較的，同樣由于半擴散角也改變如果缺陷所在位置不能被聲束完全覆蓋 那么也是不能比較的。
2.當缺陷頻率改變后 超聲波波長會發生改變 因為不同波長對同一個缺陷的透射能力會有差異 因此缺陷的性質也會影響缺陷波高低。
3.頻率改變后聲束直徑會發生改變 因此當掃查靠近工件側面缺陷的時候 不同寬度聲束的側壁干涉區域會不同 因此對聲束能量影響是無法得到修正的 故不宜放在一塊比較。
4.材料的晶粒大小對不同波長的超聲波影響也是不一樣的，就本工件來說可以暫且忽略。
5.以上討論均是在理想狀態下進行的 現在說一下探頭 探頭的標稱頻率不是單一的就一個固定頻率 它是由一個范圍內的不同頻率合成的 而且低頻的探頭很難做！因此你能保證你所用的探頭頻率偏差不大嗎？（國產低頻探頭實在不敢恭維）。
就以上幾點放到本工件上來看我想影響最大的應該是側壁干涉 跟所選對比低頻探頭的質量  
此工件要定量還是用對比試塊較為妥當
以上為個人愚見 請各位前輩指正

明天上缺陷波形圖

鍛件需要用這么低頻的探頭嗎

這個不一定的，要看鍛件的大小，晶粒組織

你都做avg/dgs曲線了嗎？

在滿足信噪比或分辨力、靈敏度的情況下，以較高頻率定量要約為準確一些；遇到晶粒粗大，才考慮更換頻率較低的探頭檢測。

{:soso_e163:}

圖片改到主貼了，望大家不吝賜教。

{:soso_e163:}