超聲檢測(cè)探頭K值的選擇問(wèn)題

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翔云 發(fā)表于 2013-2-24 10:42
能不能具體點(diǎn)。謝謝

在前面的回復(fù)中已經(jīng)對(duì) 單面雙側(cè)直射、一次反射；雙面雙側(cè)直射；角焊縫單面直射、一次反射；角焊縫雙面直射等的K值要求作了說(shuō)明。你可以翻到前面看一下就是了。

學(xué)習(xí)了
各位能順帶著說(shuō)說(shuō)晶片尺寸的問(wèn)題嗎

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)選就可以了。再就是教材上的公式K≥（a+b+l）／T

li0510lin 發(fā)表于 2013-3-19 18:10
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)選就可以了。再就是教材上的公式K≥（a+b+l）／T

標(biāo)準(zhǔn)只是一個(gè)大致的范圍，實(shí)際的檢測(cè)很多要求是標(biāo)準(zhǔn)中所沒(méi)有的。標(biāo)準(zhǔn)只是說(shuō)明了要，至于如何實(shí)現(xiàn)保證就要靠驗(yàn)證后的檢測(cè)工藝或工藝卡。

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