無損檢測(cè)在線問題解答

驗(yàn)證磁粉檢測(cè)系統(tǒng)的綜合性能的方法中，標(biāo)準(zhǔn)試片僅是其中的一種，最佳的方法是使用帶有臨界缺陷的實(shí)際工件。點(diǎn)接觸設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)避免使用因?yàn)椴患训拇呕ЧＨ绺杏X到磁力不足，檢測(cè)應(yīng)立即停下。

互通有無，互相學(xué)習(xí)，共同進(jìn)步，絕對(duì)支持！

強(qiáng)烈支持！！！

丁工您好！請(qǐng)問底片曝光后受折，他們留下的痕跡都是黑色的影像，這是什么原因?

壓力作用引起增加額外的曝光，從而增加了局部的黑度！

壓力也能使底片曝光嗎？（光子或電子才能使溴化銀感光嗎？）

頂一下！

丁工！這個(gè)問題答案紅筆標(biāo)的第一句應(yīng)該是測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度吧！紅筆標(biāo)的雜亂波峰是指缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的意思嗎？

這是缺陷測(cè)高的方法，多點(diǎn)指的是缺陷反射有多個(gè)峰值的意思。但該方法有一定的難度，主要是缺陷不是我們想象的那么規(guī)則，而且回波的峰值不一定是缺陷的端點(diǎn)，因?yàn)樵谏隙它c(diǎn)可能存在這樣的端點(diǎn)，但在下端點(diǎn)，就不一定了。故該方法僅是大致的缺陷高度測(cè)量方法，主要要于與測(cè)試面垂直的裂紋類缺陷的高度測(cè)量！

完全贊同，堅(jiān)決支持，熱烈擁護(hù)