針對JB/T 4730.2-2005部分的修訂,有幾點意見請大家討論(續(xù)):
12:關(guān)于底片標(biāo)識和定位標(biāo)識的補充建議 ? 對于設(shè)計或合同要求內(nèi)外焊縫余高均磨平的情況,底片上不能正確區(qū)別焊縫時,不利于有效評定區(qū)的識別,影響底片評定及缺陷判別,針對此種情況建議補充通過標(biāo)識確定檢驗區(qū)寬度范圍的技術(shù)要求,規(guī)范操作并確定底片上有效評定區(qū)寬度范圍。 ? 為了能精確的辨別底片位置,建議考慮補充被檢工件上永久標(biāo)識,或參考點,或其它確定底片位置方法(如布片圖)等的相關(guān)技術(shù)要求。 13:關(guān)于灰霧度的補充建議 ? 我個人認(rèn)為底片灰霧度的物理意義應(yīng)是未曝光的膠片經(jīng)顯影處理后的總體黑度,這與膠片的儲存條件及暗室處理情況有關(guān),JB/T 4730-2005中規(guī)定膠片灰霧度不得大于0.3,建議在此基礎(chǔ)上補充膠片灰霧度測量時間間隔、抽樣及暗室處理條件與產(chǎn)品底片暗室處理條件之間的關(guān)系等技術(shù)要求。 14:關(guān)于底片沖洗質(zhì)量控制的建議 ? 底片的保存壽命直接與底片上殘存的硫代硫酸根離子的含量有關(guān),為了確保對膠片所進(jìn)行的處理能使底片在今后得到最佳保存。建議補充底片處理質(zhì)量檢驗的相關(guān)技術(shù)要求。 ? ASME SE-94中提出了測定要求,RCC-M標(biāo)準(zhǔn)對此作了較為詳細(xì)的測定方法和后續(xù)行動要求規(guī)定,建議參考ASME和RCC-M的相關(guān)規(guī)定。
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