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直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響
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直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響
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31
#
wangjiabao
|
2013-4-2 08:47:26
|
只看該作者
{:soso_e100:}
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32
#
lfdafei
|
2013-4-7 11:24:01
|
只看該作者
那個波形就是缺陷啊
思想決定一切
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33
#
lfdafei
|
2013-4-7 11:25:01
|
只看該作者
你看看那是缺陷嗎?缺陷還能變???你學過超聲嗎
思想決定一切
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34
#
lfdafei
|
2013-4-11 08:19:25
|
只看該作者
是,您說的好,兄弟下次注意.{:soso_e181:}
思想決定一切
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35
#
jianglicpa
|
2013-5-10 13:39:46
|
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頻率對缺陷的定量不能有這樣大的影響,不然對缺陷定量還有意義嗎?看你用的是GE的探頭,完全可以用探頭自帶的AVG,只是需要減去內(nèi)孔散射影響。這比試塊法又簡單又準確。
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36
#
一彎馨月
|
2013-10-25 07:18:03
|
只看該作者
{:soso_e160:}
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37
#
德德
|
2013-10-25 07:44:04
|
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{:soso_e163:}{:soso_e163:}
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38
#
kinhaw
|
2013-10-27 21:15:58
|
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頻率越高,衰減越大,計算缺陷當量時考慮衰減問題了嗎?
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39
#
yuwen
|
2014-1-2 23:42:02
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只看該作者
{:soso_e163:}
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40
#
﹏〆隨哘灬▓
|
2014-1-6 14:24:04
|
只看該作者
從理論公式上來看高頻探頭探出的缺陷應比低頻大,探頭頻率直接影響探傷的分辨率和波的穿透力,對與鍛件組織不均勻或晶粒粗大的情況穿透力較強的低頻探頭對于非組織引起的異常反射較為靈敏。但是一般情況下探頭頻率對當量的影響不應該會很大(除漏檢情況外,由于半波長原因高頻更靈敏)
我有3點疑問:1.換探頭的同時曲線重做沒有。 2.我看圖片的波形不太像缺陷波(對幻像波排除沒)3.圖片上探傷部位為鍛件側(cè)壁,側(cè)壁干涉會不會有影響.
點評
zjaitxia11
高頻檢出是小
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發(fā)表于 2024-6-15 17:44
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