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          [討論] 關于掃查靈敏度的問題

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          21#
          liuhonghui | 2014-3-11 22:57:10 | 只看該作者
          本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-12 21:30 編輯

          1、我認為提高靈敏度與分段曲線不能同時出現在一個規(guī)程里,會出現邏輯混亂,可能ASME不講分段曲線,標準理解,我還是很欠缺;
          2、儀器周期鑒定如果出現不合格,是否上一周期的檢驗數據需要推倒重來,回答是否定的。鑒定與校核是不同的。我認為校核就是對某一固定組合靈敏度的校核,機器拿出去與拿進來,各個按鈕都沒動的情況下的靈敏度的校核。
          22#
          梁金昆 | 2014-3-12 07:05:34 | 只看該作者
          謝謝樓主!提出問題,大家討論,很好!大科學家也有疏漏,錯誤,何況我們?另外,您說我是活字典,不敢當!真正的國外標準的活字典,是李衍先生!謝謝您幾年來對我的感情!祝平安!
          23#
          luolang1314 | 2014-3-12 20:38:02 | 只看該作者
          本帖最后由 luolang1314 于 2014-3-12 21:02 編輯

          國標當中對于橫向缺陷掃查,同樣是在縱向缺陷掃查靈敏度下,再提高6dB進行檢測;
          ASME不推薦因試塊和工件表面耦合差異,提高掃查靈敏度,因為其要求檢測試塊和工件表面光潔度等條件差異不大。實際情況下,這一點基本上沒有滿足。所以國標采用折衷的辦法,增加耦合補償(一般增加4dB)。實際,耦合補償需要測定,然后確定其具體數值的。
          實際檢測過程當中,影響檢測結果的因素較多,基準靈敏度作為一個重要因素,并不是一成不變就好;對于數字機可以較方便、快捷的提高掃查靈敏度,而并不改變缺陷定量水平,在檢測當中顯得非常重要。
          數字機已經在電子元器件上,在硬件上提高非常快,對于檢測準確性也有一定保障。那種擔心反復調節(jié)影響儀器壽命的想法,可能在模擬機上說得過去,對于數字機可能就不合適了。
          在保證缺陷信噪比的情況下,在保證噪聲水平在一個合理的水平情況下,適量提高檢測靈敏度是非常必要的。
          歐標對于這一部分,直接在標準當中,就給出了明確指示。
          而針對國標,也在橫向缺陷檢測時,明確提出增加6dB的要求,也顯得合理(實際上,提高6dB對于橫向缺陷提高檢出率僅僅是杯水車薪,更需要從檢測工藝及方法上改進)
          而無損檢測從NDT向NDE邁進,不僅關注缺陷的常規(guī)指標(反射特性、當量水平、位置信息、靜態(tài)波形、動態(tài)包絡圖等),而且關注缺陷的走向、波形細節(jié)特征、相位信息、波型轉換、衍射頻散特性等非常規(guī)或非線性指標,這些都需要全面提高信噪比,不僅僅是提高掃查靈敏度;為了提高檢測效率,根據經驗,往往提高掃查靈敏度,發(fā)現缺陷后,降到基準靈敏度進行定量,個人覺得沒什么太大的問題。
          僅是個人觀點!
          24#
          liuhonghui | 2014-3-12 21:34:54 | 只看該作者
          luolang1314 發(fā)表于 2014-3-12 20:38
          國標當中對于橫向缺陷掃查,同樣是在縱向缺陷掃查靈敏度下,再提高6dB進行檢測;
          ASME不推薦因試塊和工件表 ...

          ASME從1978年把NDT正式更名NDE,只是沒有把RT改為RE等等而已。

          點評

          對于NDE,既可以指 Non-Destruction Examination,也可以指 Non-Destruction Evaluation,我文中指的是無損評價,對無缺陷的材料性能也要進行評價其安全、壽命等。  發(fā)表于 2014-3-13 17:35
          25#
          那一刻 | 2014-3-13 01:02:17 | 只看該作者
          本帖最后由 那一刻 于 2017-2-18 12:23 編輯

          抱歉,已刪除!
          26#
          nde7225030 | 2014-3-13 07:16:43 | 只看該作者
          對于現在的數字機而言不加n個dB進行掃查,可能發(fā)現小缺陷,對于模擬機有點困難,同樣不管是數字還是模擬機,發(fā)現回波沖頂的大缺陷,要看最高回波,還是要調整增益,這也等于改變了靈敏度,難道這也不行嗎,提高幾個滴B并不改變你的初始靈敏度設置,
          27#
          梁金昆 | 2014-3-13 11:28:11 | 只看該作者
          本帖最后由 梁金昆 于 2014-3-13 11:36 編輯

          討論中,又牽涉出的問題----關于ASME V 的兩個疑問:
          1 . ASME V 理解:“無損檢測從NDTNDE邁進” 的說法,或“無損檢測向無損評價發(fā)展”的說法,均不準確。因為無損探傷、無損檢測、無損檢驗、無損評價,ASME V認定為同義詞。但令我不解的是: 既然它們是同義詞,ASME V為何又從1978年把NDT正式更名NDE
          2 . ASME  V (2010) T—434.1.6表面光潔度部分規(guī)定:“試塊表面光潔度應代表受檢工件的光潔度” 。這個規(guī)定,美國人怎么做到的呢?
          以上疑問,希望壇友解惑。謝謝!
          28#
          糟老頭子 | 2014-3-13 12:50:05 | 只看該作者
          梁金昆 發(fā)表于 2014-3-13 11:28
          討論中,又牽涉出的問題----關于ASME V 的兩個疑問:1 . 按ASME V 理解:“無損檢測從NDT向NDE邁進” 的說法 ...

          “試塊表面光潔度應代表受檢工件的光潔度”
          我認為大多數情況下他們做不到。
          我們都是在孤單中執(zhí)著行走的孩子!
          29#
          liuhonghui | 2014-3-13 14:02:08 | 只看該作者
          梁金昆 發(fā)表于 2014-3-13 11:28
          討論中,又牽涉出的問題----關于ASME V 的兩個疑問:1 . 按ASME V 理解:“無損檢測從NDT向NDE邁進” 的說法 ...

          之所以叫nde,是區(qū)別于理化試驗的,理化試驗人員僅對試驗數據的正確性負責,而nde不但要對數據正確負責,而且還要對工件合格與否作出判斷,也就是說,探傷人員的身價要高于理化人員的,我是從美國一位授權檢驗師得到解釋.
          30#
          梁金昆 | 2014-3-13 16:33:47 | 只看該作者
          本帖最后由 梁金昆 于 2014-3-13 16:56 編輯

          謝謝劉洪會先生的回答。
          我常說自己是無知者,無知者狂妄!我認為,上面兩個疑問,不論ASME V 的權威們如何解釋,它們都是這個規(guī)范的兩點不足(這個規(guī)范的不足之處,不止以上兩點)。比如,把NDT改為NDE,應該,為何不把RT改為RE呢?改又難在何處?實在說,改不改,無什么實際意義。我想,尊重權威規(guī)范\書籍,又不迷信權威規(guī)范\書籍,似乎才是為學之道。妄言了。
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