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[分享] JB/T4730.3(超聲)討論區(qū)

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李濟(jì)科 | 2012-2-23 11:25:00 | 只看該作者
探頭制造廠標(biāo)注的晶片尺寸,是晶片的實(shí)際尺寸,還是“有效換能器尺寸”?丁先生所謂的“有效聲場”來自哪個標(biāo)準(zhǔn)?
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王緒軍 | 2012-2-23 19:50:52 | 只看該作者
是晶片的實(shí)際尺寸!
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丁偉臣 | 2012-2-23 19:53:42 | 只看該作者
在歐標(biāo)培訓(xùn)考試中,第一步就是了解和測量探頭的有效聲場分布,然后按照相應(yīng)的檢測要求選擇合適的探頭(頻率、晶片尺寸、保護(hù)膜性質(zhì)及阻尼等)。
比如鋼管探傷,采用點(diǎn)聚焦還是線聚焦,線聚焦的長度如何選擇等,同樣的不連續(xù),在不同的檢測系統(tǒng)下,可能產(chǎn)生較大的結(jié)果分歧。
鍛件檢測中如何定義顯示的特性(點(diǎn)狀/延伸性)。。。
偉臣答疑回來啦!
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王緒軍 | 2012-2-23 19:58:23 | 只看該作者
有效聲場的直徑與聲程有關(guān)
應(yīng)該還與探頭頻率、晶片尺寸形狀、聲波速度和聲波衰減性有關(guān).
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ace-redin | 2012-2-25 20:10:57 | 只看該作者
強(qiáng)總你好,我的建議是關(guān)于焊縫驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的ⅢA試塊的。

使用超聲波進(jìn)行檢測時,超聲波在作為確定靈敏度的校準(zhǔn)試塊中的聲場情況應(yīng)該與待檢工件中的聲場大致一致,而且試塊中標(biāo)準(zhǔn)反射體應(yīng)與可能的缺陷有一定的代表性。  而在JB/T4730.3中的確定焊縫驗(yàn)收基準(zhǔn)的ⅢA試塊,根本不能滿足此兩種情況。其一:試塊寬度僅25mm,超聲聲束在達(dá)到可能30mm深左右的反射體時,已經(jīng)引起了側(cè)壁反射,這與在實(shí)際工件中(厚于30mm)卻沒有側(cè)壁反射等干擾聲場的因素。其二:6mm的φ1短橫孔能過模擬什么類型的缺陷啊。他能模擬裂紋、未熔合、未焊透、夾渣等典型缺陷么,充其量也就能算是氣孔,因?yàn)樗目讖教∏议L度太短。

建議:能否參考下ASME中的試塊設(shè)計(jì)。規(guī)定了足夠?qū)挼脑噳K寬度(150mm)、標(biāo)準(zhǔn)反射體的最小長度(不小于38mm),和根據(jù)不同厚度工件,試塊中的標(biāo)準(zhǔn)反射體尺寸相應(yīng)增加(φ2.5 / φ3 / φ5………)

PS:JB/T4730.10中TOFD試塊的設(shè)計(jì)就比較合理。
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NDT無損檢測 | 2012-2-27 14:01:01 | 只看該作者
{:soso_e100:}
工作是友誼的橋梁!
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馬君鵬 | 2012-2-27 15:49:00 | 只看該作者
本帖最后由 馬君鵬 于 2012-2-27 15:51 編輯

強(qiáng)老師,您好!我對JB/T4730.3中焊縫評級描述中一直存有一點(diǎn)疑問,特此請教!
按標(biāo)準(zhǔn)中表23中評級要求,對于一些檢驗(yàn)情況,個人認(rèn)為會產(chǎn)生一些問題,特舉例說明:1、工件母材板厚為30mm,發(fā)現(xiàn)一處缺陷指示長度為11mm,最高波位于II區(qū),那么該如何對其進(jìn)行評級?如按I級評定,其明顯不符合L<T/3的規(guī)定;如按II級評定,其又不滿足L在12~40mm內(nèi)的規(guī)定,不知應(yīng)如何評定。2、按標(biāo)準(zhǔn)要求,缺陷指示長度小于10mm,按5mm計(jì),但未明確其評定要求,如當(dāng)發(fā)現(xiàn)一處最高波位于II區(qū)的點(diǎn)狀缺陷,其是評定為I級還是僅記錄在評級中標(biāo)明“點(diǎn)狀缺陷”——之所以探討這個問題是要引出下面這個問題,現(xiàn)在火力發(fā)電廠主汽、熱再P91、P92管道因安裝焊縫現(xiàn)場焊接問題,存在大量位于II區(qū)甚至位于III區(qū)的點(diǎn)狀缺陷,有些缺陷還很密集,如在探頭不移動的情況下就可同時發(fā)現(xiàn)兩處可區(qū)分開的點(diǎn)狀缺陷(2.5P13X13K1、K2),這樣如果多處點(diǎn)狀缺陷分布比較集中,又均按5mm計(jì),會出現(xiàn)多個缺陷累計(jì)長度超標(biāo)的情況(如壁厚30mm焊縫,在4.5T范圍即135mm長度內(nèi)發(fā)現(xiàn)8處點(diǎn)狀缺陷,累計(jì)長度40mm超過壁厚30mm,應(yīng)評定為III級),但這樣評定是否有放大缺陷危害之嫌?而如果只記錄點(diǎn)狀缺陷不進(jìn)行評級,是否可不按應(yīng)進(jìn)行缺陷累計(jì)長度進(jìn)行評定,就不存在上述問題?
上述問題均來自實(shí)踐,早想撰文探討,幸得此良機(jī),還望強(qiáng)老師和各位專家不吝賜教!檢測末學(xué)后進(jìn)在此先行謝過!

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丁偉臣 | 2012-2-27 19:53:16 | 只看該作者
李老,您好!
“有效聲場”我是自己翻譯的,來自于EN583-2, 5的“sound beam diameter".
如翻譯不妥,請指正!
27樓的問題解答如下:
首先該二區(qū)顯示肯定不符合I級要求,其次30mm焊縫II級II區(qū)最大允許顯示長度為12mm,顯然11小于12mm,評為II級。
至于點(diǎn)狀顯示的評定,標(biāo)準(zhǔn)問題不多解釋!
偉臣答疑回來啦!
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王緒軍 | 2012-2-27 21:14:31 | 只看該作者
其二:6mm的φ1短橫孔能過模擬什么類型的缺陷啊。他能模擬裂紋、未熔合、未焊透、夾渣等典型缺陷么,充其量也就能算是氣孔,因?yàn)樗目讖教∏议L度太短。

  這個問題,看看左厚揚(yáng)老前輩的相關(guān)文章你就知道!
    不是φ1*6這個試塊不好,而是把它和φ3的長橫孔試塊混在一個標(biāo)準(zhǔn)里不好!
30#
強(qiáng)天鵬 | 2012-2-27 22:15:31 | 只看該作者
射線檢測有兩種像質(zhì)計(jì),孔型和線型,孔型像質(zhì)計(jì)是模擬氣孔的,線型像質(zhì)計(jì)是模擬條渣或裂紋的。美國和歐洲標(biāo)準(zhǔn)對兩種像質(zhì)計(jì)都允許使用。
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