GBT11345-13中關(guān)于探頭頻率的問(wèn)題

大森林 發(fā)表于 2016-8-21 16:09
不知道層主是不是表達(dá)錯(cuò)誤？或者有沒(méi)有親自對(duì)比過(guò)？13*13的雜波比9*9的雜波多？14年干過(guò)加拿大的一個(gè)項(xiàng)目 ...

能把當(dāng)時(shí)比較的數(shù)據(jù)和詳細(xì)的信息提供一下嗎？
我們的測(cè)試可能并不能說(shuō)明問(wèn)題。13*13是多普樂(lè)的橫波斜探頭；9*9是汕頭的橫波斜探頭。
目前國(guó)產(chǎn)探頭，汕頭的信噪比還是要高一些，而且質(zhì)量更加穩(wěn)定一些。
只有比較同一公司，同一K值的探頭才能說(shuō)明問(wèn)題。
而且要多比較幾組，防止偶然因素，結(jié)論才比較可靠。
最好有比較的測(cè)試照片。當(dāng)然，采用進(jìn)口的探頭進(jìn)行比較，也比較有說(shuō)服力。
另外，不同檢測(cè)結(jié)構(gòu)或型式，也會(huì)影響到比較。所以，在平板上測(cè)試比較可靠。

luolang1314 發(fā)表于 2016-8-21 16:17
能把當(dāng)時(shí)比較的數(shù)據(jù)和詳細(xì)的信息提供一下嗎？
我們的測(cè)試可能并不能說(shuō)明問(wèn)題。13*13是多普樂(lè)的橫波斜探頭 ...

業(yè)主要求13*13 9*9晶片尺寸探頭45 60 70 度共6組探頭檢測(cè)。
角接焊縫本身雜波比較多，開(kāi)始時(shí)候屏幕上的每個(gè)波形業(yè)主都要求解釋，這就讓我們效率很低，后來(lái)幾組人員休息時(shí)間互相討論就提到了這個(gè)問(wèn)題。
13*13的雜波明顯要少很多。（我認(rèn)為是擴(kuò)散角小于9*9的原因）
后來(lái)我們就要求采購(gòu)上15*15的晶片尺寸探頭。采用探頭是SIUI頻率2.5M探頭，設(shè)備是CTS9006。
因?yàn)檫@件事是14年比較近，結(jié)論我應(yīng)該記不錯(cuò)。
哪位同行有條件可以找張?jiān)嚢逶囈幌拢餐瑢W(xué)習(xí)。

這個(gè)問(wèn)題我和王工已經(jīng)交流過(guò)了，我個(gè)人的觀點(diǎn)是：第一:15-25用兩個(gè)探頭檢測(cè)，一個(gè)是大角度的,，另一個(gè)是小角度的，在實(shí)際檢測(cè)中，小角度的探頭能檢出的缺陷，大角度探頭均能檢出，增加探頭對(duì)缺陷檢出率并沒(méi)有實(shí)質(zhì)性的提升；第二點(diǎn)：把探頭頻率限制在3MHz以下，是因?yàn)楦哳l探頭的聲束指向性比低頻好，如果焊縫中存在與聲束成一定角度的且反射面較光滑的缺陷，如未熔合，高頻聲束更容易產(chǎn)生鏡面反射，導(dǎo)致回波過(guò)低而漏檢。聲束寬度的影響只是次要因素，完全可以提高掃查覆蓋率解決。

這個(gè)問(wèn)題我和王工已經(jīng)交流過(guò)了，我個(gè)人的觀點(diǎn)是：第一:15-25用兩個(gè)探頭檢測(cè)，一個(gè)是大角度的,，另一個(gè)是小角度的，在實(shí)際檢測(cè)中，小角度的探頭能檢出的缺陷，大角度探頭均能檢出，增加探頭對(duì)缺陷檢出率并沒(méi)有實(shí)質(zhì)性的提升；第二點(diǎn)：把探頭頻率限制在3MHz以下，是因?yàn)楦哳l探頭的聲束指向性比低頻好，如果焊縫中存在與聲束成一定角度的且反射面較光滑的缺陷，如未熔合，高頻聲束更容易產(chǎn)生鏡面反射，導(dǎo)致回波過(guò)低而漏檢。聲束寬度的影響只是次要因素，完全可以提高掃查覆蓋率解決。

有沒(méi)有實(shí)際檢測(cè)的案例呢？或者對(duì)比檢測(cè)試驗(yàn)？高頻的指向性是要比低頻好，但是對(duì)于工業(yè)使用的探頭，歐標(biāo)的頻率高一點(diǎn)的也就4MHz，國(guó)標(biāo)高一點(diǎn)的也只頂多5MHz的橫波斜探頭，所以比3MHz以下的探頭，不見(jiàn)得會(huì)漏檢吧？

2.5P10*10,-6dB
5p10*10,-6Db

感謝

dongxuliu123

提供的圖片
圖片上面的顯示說(shuō)明：其他條件相同的情況下，頻率低的探頭聲束覆蓋的空間更大。

關(guān)注王老師的這個(gè)問(wèn)題很久了，看了點(diǎn)資料，集合大家的觀點(diǎn)。個(gè)人的理解：

應(yīng)該是控制能量衰減。




具體分析過(guò)程：



按照規(guī)定，用兩個(gè)探頭，在A或B位置選一處掃查。掃查范圍是1.25倍全跨距，掃查4次。
“或”的意思是只選其一，兩個(gè)探頭有4次掃查，所以應(yīng)該是單面雙側(cè)掃查（標(biāo)準(zhǔn)上沒(méi)有這么說(shuō)，理解不正確請(qǐng)指正）。1.25倍全跨距保證全覆蓋（選擇正確的角度，K值不小于一個(gè)值，可根據(jù)接頭參數(shù)計(jì)算），標(biāo)準(zhǔn)只有個(gè)籠統(tǒng)規(guī)定。

按照上面的條件檢測(cè)，是標(biāo)準(zhǔn)的一般檢測(cè)。但是在該項(xiàng)，有幾個(gè)特殊的地方。分別有小標(biāo)注f、b、e。王老師提出的問(wèn)題主要在f這個(gè)條件上，b、e暫不考慮。
f這個(gè)標(biāo)注，有兩個(gè)前提條件:1、材料厚度在15—25之間（包括25，不包括15.“不知道為什么留下一個(gè)15厚度”）；2、探頭頻率在3MHz以下（本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定一般探頭頻率在2—5MHz之間，其他頻率需要特別規(guī)定，實(shí)際操作時(shí)，頻率應(yīng)該在2—3MHz）。滿足1、2條件時(shí)可以只用一個(gè)探頭。


可以看出25—40之間的板是不適用的。


這兩個(gè)限制條件有什么共通點(diǎn)？


材料厚度的限制，對(duì)同一個(gè)探頭而言，掃查距離增加、最大聲程增加、探頭可能不全復(fù)蓋檢測(cè)區(qū)域。頻率的限制（向下限制），降低分辨率、近場(chǎng)增加、擴(kuò)散角增加、降低吸收衰減。
兩個(gè)條件，限制的對(duì)象應(yīng)該是相關(guān)的或是相同的。由以上分析，相同作用是：都控制了能量衰減這一項(xiàng)。


探頭聲程：50K（最大檢測(cè)聲程）。

使用兩個(gè)探頭（頻率小于3MHZ）檢測(cè)時(shí)，必定是一大一小兩個(gè)角度，聲程也是。對(duì)于厚度不大（1、可由一個(gè)大角度全覆蓋；2、多個(gè)角度對(duì)缺陷檢出率沒(méi)有多大變化），如果大角度聲程能保證檢測(cè)的能量要求，小角度探頭就沒(méi)有使用的必要。只須用一個(gè)。

當(dāng)頻率高于3MHz時(shí)，大角度探頭在（50K大）聲程上能量不能滿足要求，而小角度探頭（50K小）聲程上能滿足要求，那就須要兩個(gè)探頭共同使用。






焊縫覆蓋應(yīng)該和頻率沒(méi)什么關(guān)系。

王師傅你好！這是因?yàn)樵诒“鍣z測(cè)中選70度探頭時(shí)，有機(jī)玻璃縱波聲程為11.5-23毫米（鍥內(nèi)時(shí)間8.5-17us）左右換算成鋼中聲程25-50毫米左右，?鋼中對(duì)應(yīng)板厚15毫米高時(shí)（聲程為44毫米左右）遠(yuǎn)避開(kāi)近長(zhǎng)區(qū)影響。在這基礎(chǔ)上運(yùn)用聲束公式計(jì)算44至74毫米聲程（4MHz時(shí)，超聲波聲束值為11至19毫米）；如果使用2.5MHz時(shí)相對(duì)聲程所計(jì)算的聲波聲束值為18至31.5毫米。考慮到探頭前沿與聲束覆蓋面積就只能使用3MHz以下探頭（剛好15-25毫米時(shí)）。備注探頭直徑12.5毫米

不解，低頻提高擴(kuò)散角度，晶片大小一樣存在影響，如果考慮采用低頻和小晶片結(jié)合，即使?jié)M足擴(kuò)散，始脈沖寬度加大，是否也失去意義？