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          [討論] 關于掃查靈敏度的問題

              [復制鏈接]
          11#
          liuhonghui | 2014-3-8 21:00:21 | 只看該作者
          丁偉臣 發表于 2014-3-8 20:49
          掃查靈敏度是我們在掃查時并不能確保每個顯示被聲束中心擊中,因為一般采用6分貝聲場進行覆蓋,故此時應 ...

          這個問題依舊可以用分段曲線來回答,儀器有動態范圍26db(現在儀器32dB),意味著低于5%(3%)的為全波消失,只要在5%-100%的波峰,就是沒有漏檢的。沒必要提高掃靈敏度,做好分段曲線就行了,再者,可能要說的6dB聲束寬度與靈敏度大小無關,探頭自身的指標參數。
          12#
          丁偉臣 | 2014-3-8 21:06:22 | 只看該作者
          liuhonghui 發表于 2014-3-8 21:00
          這個問題依舊可以用分段曲線來回答,儀器有動態范圍26db(現在儀器32dB),意味著低于5%(3%)的為全波消 ...

          不跟你瞎扯了!
          有空看看EN 583-2吧!
          偉臣答疑回來啦!
          14#
          糟老頭子 | 2014-3-10 18:47:54 | 只看該作者
          本帖最后由 糟老頭子 于 2014-3-10 18:49 編輯

          1、當我們在試塊上做好DAC曲線之后,大家總是不假思索的”啪啪啪“提高n個dB就去現場檢測去了。正確嗎?好像沒人懷疑,國內標準這樣寫的,老師這樣教的。我認為可能全錯了?
          2、當缺陷沒有發現,或外行或領導懷疑時,總是會說再提高點靈敏度試試看,好像很專業。但是任何事情都是相對的!
          我認為提高n個dB沒什么錯,只要在評定不連續等級時降下來就可以了:增加dB后,不連續的信號會更容易發現,尤其是對于一些較厚的工件檢測,在較大聲程處曲線可能很低,缺陷的回波也已是非常的低,不容易識別。增加dB就好像是“增加了信噪比”,之所以加引號是實際上信噪比并不受增益的加減決定。
          君不見現在有些設備具有TCG的功能,就是把同樣大小不同深度的反射體回波信號(DAC曲線)拉得同樣高度。原理類似于此,但又有很多設備不具有此功能,所以我們只得“啪啪啪”了,呵呵。
          我們都是在孤單中執著行走的孩子!
          16#
          梁金昆 | 2014-3-11 16:12:14 | 只看該作者
          人老了,似懂非懂,稀里胡涂參與討論----
          ASME  V (2010) T—471.4專門對掃查靈敏度水平做了規定:T---471.4.1距離波幅法  掃查靈敏水平的調節應比調好的基準線增益至少高6dB
          17#
          丁偉臣 | 2014-3-11 16:25:56 | 只看該作者
          梁金昆 發表于 2014-3-11 16:12
          人老了,似懂非懂,稀里胡涂參與討論----ASME  V (2010版) T—471.4專門對掃查靈敏度水平做了規定:T---471. ...

          頂!
          偉臣答疑回來啦!
          18#
          liuhonghui | 2014-3-11 22:24:25 | 只看該作者
          本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-11 22:40 編輯

          謝謝大家參與
          19#
          liuhonghui | 2014-3-11 22:38:19 | 只看該作者
          本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-11 22:39 編輯

          謝謝大家參與
          20#
          liuhonghui | 2014-3-11 22:38:20 | 只看該作者
          本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-12 21:27 編輯

          梁老就是活字典,呵呵,謝謝梁老,在這里就是探討思考, 越辯越明,也是一種樂趣
          1、我還是僅代表我的觀點;
          2,分段曲線很重要,可以不需要提高掃查靈敏度;儀器既然規定動態范圍,滿足動態范圍的信號,只要高于全波消失的的信號,都是定量準確的,既然分段曲線最低放在25%,其這時對應的評定線即為5%(25%乘以20%),在全波消失波之上,定量是沒問題的;既然做了分段曲線何必再提高靈敏度掃查!提高掃查靈敏度,結果淺盲區增大,還需增加淺盲區試塊,補充檢測,還要多鉆孔,何苦呢?
          2,電子元器件的開關接觸電阻的氧化,來回扳動電阻不恒定;切換放大電路時,電容二極管等需要穩定的預熱時間才能有穩定的曲線,所以ASME規定儀器周期鑒定,靈敏度校準時機,我認為最好還是校準與檢測時保持組合靈敏度狀態始終如一,數據才真實可靠;
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