和A超相比較，TOFD最大的優(yōu)點(diǎn)是什么？

@luolang1314 抱歉，我沒有在你的鏈接中找到“在相控陣面前，它測定缺陷高度是沒有任何優(yōu)勢的。”
如果你指的是happynation說的“PAUT也可直接測端角衍射了”，看看TOFD的英文全稱：Time Of Flight Diffraction。用PAUT的衍射波來測高也是用的衍射時差法。

未查到相關(guān)文獻(xiàn)證明相控陣測高精度優(yōu)于TOFD，上面的說法僅從實(shí)際檢測當(dāng)中（TOFD檢測和解剖實(shí)驗）推斷而來，所以不夠嚴(yán)謹(jǐn)，希望不會誤導(dǎo)壇友！
同樣的未查到TOFD測高精度比手工超聲、PA高的文獻(xiàn)。如有，希望壇友們提供一下。
不同檢測方式、工藝測定缺陷的高度定量試驗也似乎沒有，有條件的壇友可以自己動手做一下對比試驗，用數(shù)據(jù)說話，總比理論探討要實(shí)惠得多！

luolang1314 發(fā)表于 2014-1-21 19:39
TOFD最大優(yōu)點(diǎn)是測長。其它的定量精度皆不是特別高（相對相控陣等，有時也比普通A超低）。最大缺點(diǎn)是盲區(qū)太 ...

測量長度上類似手超6dB法吧？不是它的優(yōu)勢吧？

假面 發(fā)表于 2014-1-23 08:41
測量長度上類似手超6dB法吧？不是它的優(yōu)勢吧？

這個怎么說呢？TOFD長度測量在灰度圖譜上一般采用的是R弧擬合法確定缺陷長度的端點(diǎn)，原理上類似手工超聲6dB法吧；但是由于TOFD采用的探頭一般為5M fai 6  60°窄脈沖探頭，無論是聲場特性、晶片尺寸，還是回波品質(zhì)都優(yōu)于手工常規(guī)橫波斜探頭（K2 8*12或13*13），所以在長度方向上的縱向分辨力要優(yōu)于手工6dB法測長的。
如果定量要求高的手工超聲檢測，將會采用專用測長、測高的探頭（也有專用的掃查缺陷的探頭，其定量精度不是特別高），這樣會大大提高缺陷尺寸測定水平的。所以，拿TOFD檢測和普通手工超聲進(jìn)行比較，有時候并不是在同一個層面上進(jìn)行比較，容易得出TOFD定位、定量較為準(zhǔn)確的結(jié)論的。
當(dāng)然一般情況下，將TOFD定長和手工A超測長進(jìn)行比較，是基于一定試驗和經(jīng)驗的，值得檢測人員去了解！

能夠測量精確缺陷的高度應(yīng)該是tofd最大的憂點(diǎn)！歐洲tofd技術(shù)應(yīng)用時間長，但是相控陣技術(shù)美國應(yīng)用得比較多。

TOFD和普通超聲相比最最大的優(yōu)點(diǎn)是可記錄。

個人意見：tofd測長并不比常規(guī)超聲精確多少，關(guān)于擬合方面全憑計算機(jī)計算，與真實(shí)情況有差異，TOFD備受推薦應(yīng)該就是測高，確實(shí)比較準(zhǔn)，當(dāng)然對于薄板，越靠近掃查面誤差越大，這也是不爭的事實(shí)。

至于定性，那和射線差不多，反而比射線更需要經(jīng)驗吧。

若真是要分出與射線的優(yōu)勢：
1.個人認(rèn)為熟練工人操作tofd設(shè)備，檢測速度要遠(yuǎn)超射線，我指的是工作量大的。
2.無輻射，對國際項目有優(yōu)勢，老外嘛，滿嘴的人權(quán)，你們懂的。
3，節(jié)省成本，底片真心貴，遇到迷糊的工人，給我廢了一大盒子。
4，以后真的取代射線，建設(shè)成本要低太多了，隨便一個探傷室沒有個幾百萬，不要想了，而tofd設(shè)備卻越來越便宜。

就說這么多吧，我也是剛?cè)∽C，不到之處請見諒。

luolang1314 發(fā)表于 2014-1-23 09:04
這個怎么說呢？TOFD長度測量在灰度圖譜上一般采用的是R弧擬合法確定缺陷長度的端點(diǎn)，原理上類似手工超聲6 ...

謝謝  真沒研究這么細(xì)  回頭再好好研究下

1、缺陷高度的測量是其他方法難以比擬的
2、效率高

TORD 與A超相比兩個優(yōu)勢是很明顯的，1：缺陷的檢出率；2：缺陷高度的測量。自身的局限性：1：上下表面的盲區(qū)；2：缺陷定性困難；3：不適合粗晶材料的檢測