關(guān)于掃查靈敏度的問題

只看該作者 · 2014-3-8 18:56:23

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 20:32 編輯

1、當(dāng)我們?cè)谠噳K上做好DAC曲線之后，大家總是不假思索的”啪啪啪“提高n個(gè)dB就去現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)去了。正確嗎？好像沒人懷疑，國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)這樣寫的，老師這樣教的。我認(rèn)為可能全錯(cuò)了？
2、當(dāng)缺陷沒有發(fā)現(xiàn)，或外行或領(lǐng)導(dǎo)懷疑時(shí)，總是會(huì)說再提高點(diǎn)靈敏度試試看，好像很專業(yè)。但是任何事情都是相對(duì)的！
3、為什么我們的規(guī)程翻譯成英文，歐美人看不懂，而歐美的超聲規(guī)程，尤其按照ASME編寫的規(guī)程尤其簡(jiǎn)捷？
4、在編寫規(guī)程時(shí)，ASME寫的肯定沒錯(cuò)；ASME沒寫的，我們添上去的，可能還要思考？

丁偉臣 · 2014-3-8 20:49:46

liuhonghui 發(fā)表于 2014-3-8 20:41
我的回答是肯定的，呵呵

掃查靈敏度是我們?cè)趻卟闀r(shí)并不能確保每個(gè)顯示被聲束中心擊中，因?yàn)橐话悴捎?分貝聲場(chǎng)進(jìn)行覆蓋，故此時(shí)應(yīng)額外增加6分貝，確保所有的可能在聲束中心達(dá)到評(píng)定/記錄線的顯示被發(fā)現(xiàn)！

劉超 · 2014-3-8 19:32:48

掃查靈敏度不一定要提高6db
這個(gè)要看工件的表面定

liuhonghui · 2014-3-8 19:23:57

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 21:14 編輯

回答第一個(gè)問題必須從三方面講起
1、ASME探傷儀的鑒定周期中的動(dòng)態(tài)范圍；比如：20%波高時(shí)，增加12dB時(shí)，波高理論是80%，而實(shí)際允許在64%-96%之間。意味著相差32%都是合格的設(shè)備；
2，過程檢驗(yàn)中的靈敏度校核；比如：相差大于15%必須重新檢驗(yàn)
3、涉及的放大電路與探頭的組合靈敏度在所有旋鈕組合固定時(shí)的唯一性；
延伸問題：
1、那么去掉掃查靈敏度這個(gè)概念，缺陷會(huì)漏檢嗎？回答是不會(huì)的，分段曲線就是解決這個(gè)問題的，當(dāng)一個(gè)規(guī)程既要提高dB數(shù)作為掃查靈敏度，又要分段曲線，可能邏輯就混亂了，無法自圓其說了。
2、表面補(bǔ)償dB應(yīng)在出具報(bào)告時(shí)再加上后再評(píng)定，而不能在掃查時(shí)提高dB數(shù)，不然破壞了放大電路與探頭的組合靈敏度在所有旋鈕組合固定時(shí)的唯一性。
3、ASME校準(zhǔn)試塊好像沒提到表面補(bǔ)償?shù)母拍睿绻枰砻嫜a(bǔ)償，分段曲線的最低點(diǎn)提高相應(yīng)的補(bǔ)償dB數(shù)，意味著分段曲線更緊密，也不能隨意動(dòng)儀器旋鈕。
4、隨意觸動(dòng)旋鈕是對(duì)校準(zhǔn)好的儀器最大的計(jì)量破壞。（千萬不要以為旋動(dòng)按鈕提高6dB，波高就一定升高一倍，參見上述第1點(diǎn)ASME儀器鑒定合格范圍）

liuhonghui · 2014-3-8 20:10:45

劉超發(fā)表于 2014-3-8 19:32
掃查靈敏度不一定要提高6db
這個(gè)要看工件的表面定

我的意思本來就不應(yīng)該有掃查靈敏度這個(gè)概念，如果非要有這個(gè)概念，就是基準(zhǔn)靈敏度的數(shù)值，前者體現(xiàn)干活時(shí)，后者體現(xiàn)在試塊校準(zhǔn)時(shí)

丁偉臣 · 2014-3-8 20:34:20

老劉，回來了嗎？
看了你的問題，有點(diǎn)云里霧里，把我都搞糊涂了！
有關(guān)傳輸補(bǔ)償、記錄線、額外補(bǔ)償?shù)葐栴}，請(qǐng)大家詳細(xì)閱讀EN 583.
關(guān)于ASME的規(guī)定，有自己的道理，與我們的國情有關(guān)，諾諾問一下，如何理解校驗(yàn)試塊表面狀態(tài)代表典型的被檢測(cè)工件表面狀態(tài)？我們外面賣的試塊可行嗎？如有差別，應(yīng)如何修正？
哈哈?。。?/td>