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本課程的目的是使讀者和學(xué)生了解TOFD技術(shù),以及此技術(shù)對(duì)缺陷位置、大小檢測(cè)的能力。盡管本課程是基于普遍應(yīng)用的數(shù)字超聲波數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進(jìn)行講解的,但是由于許多系統(tǒng)也具有相同的基本特征和設(shè)備,因此本課程也適用于與數(shù)字超聲波數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相似的系統(tǒng)。 本課程將作為超聲波無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)I級(jí)水平和II級(jí)水平的教材。書(shū)中的斜體字代表II級(jí)水平超聲波檢測(cè)技術(shù)人員需要掌握的知識(shí)。I級(jí)水平和II級(jí)水平的標(biāo)準(zhǔn)學(xué)時(shí)是40小時(shí)。 I級(jí)水平超聲波檢測(cè)技術(shù)人員需要掌握的技術(shù)包括:
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