關(guān)于掃查靈敏度的問題

只看該作者 · 2014-3-8 18:56:23

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 20:32 編輯

1、當(dāng)我們在試塊上做好DAC曲線之后，大家總是不假思索的”啪啪啪“提高n個dB就去現(xiàn)場檢測去了。正確嗎？好像沒人懷疑，國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)這樣寫的，老師這樣教的。我認為可能全錯了？
2、當(dāng)缺陷沒有發(fā)現(xiàn)，或外行或領(lǐng)導(dǎo)懷疑時，總是會說再提高點靈敏度試試看，好像很專業(yè)。但是任何事情都是相對的！
3、為什么我們的規(guī)程翻譯成英文，歐美人看不懂，而歐美的超聲規(guī)程，尤其按照ASME編寫的規(guī)程尤其簡捷？
4、在編寫規(guī)程時，ASME寫的肯定沒錯；ASME沒寫的，我們添上去的，可能還要思考？

丁偉臣 · 2014-3-8 20:49:46

liuhonghui 發(fā)表于 2014-3-8 20:41
我的回答是肯定的，呵呵

掃查靈敏度是我們在掃查時并不能確保每個顯示被聲束中心擊中，因為一般采用6分貝聲場進行覆蓋，故此時應(yīng)額外增加6分貝，確保所有的可能在聲束中心達到評定/記錄線的顯示被發(fā)現(xiàn)！

劉超 · 2014-3-8 19:32:48

掃查靈敏度不一定要提高6db
這個要看工件的表面定

liuhonghui · 2014-3-8 19:23:57

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 21:14 編輯

回答第一個問題必須從三方面講起
1、ASME探傷儀的鑒定周期中的動態(tài)范圍；比如：20%波高時，增加12dB時，波高理論是80%，而實際允許在64%-96%之間。意味著相差32%都是合格的設(shè)備；
2，過程檢驗中的靈敏度校核；比如：相差大于15%必須重新檢驗
3、涉及的放大電路與探頭的組合靈敏度在所有旋鈕組合固定時的唯一性；
延伸問題：
1、那么去掉掃查靈敏度這個概念，缺陷會漏檢嗎？回答是不會的，分段曲線就是解決這個問題的，當(dāng)一個規(guī)程既要提高dB數(shù)作為掃查靈敏度，又要分段曲線，可能邏輯就混亂了，無法自圓其說了。
2、表面補償dB應(yīng)在出具報告時再加上后再評定，而不能在掃查時提高dB數(shù)，不然破壞了放大電路與探頭的組合靈敏度在所有旋鈕組合固定時的唯一性。
3、ASME校準(zhǔn)試塊好像沒提到表面補償?shù)母拍睿绻枰砻嫜a償，分段曲線的最低點提高相應(yīng)的補償dB數(shù)，意味著分段曲線更緊密，也不能隨意動儀器旋鈕。
4、隨意觸動旋鈕是對校準(zhǔn)好的儀器最大的計量破壞。（千萬不要以為旋動按鈕提高6dB，波高就一定升高一倍，參見上述第1點ASME儀器鑒定合格范圍）

liuhonghui · 2014-3-8 20:10:45

劉超發(fā)表于 2014-3-8 19:32
掃查靈敏度不一定要提高6db
這個要看工件的表面定

我的意思本來就不應(yīng)該有掃查靈敏度這個概念，如果非要有這個概念，就是基準(zhǔn)靈敏度的數(shù)值，前者體現(xiàn)干活時，后者體現(xiàn)在試塊校準(zhǔn)時

丁偉臣 · 2014-3-8 20:34:20

老劉，回來了嗎？
看了你的問題，有點云里霧里，把我都搞糊涂了！
有關(guān)傳輸補償、記錄線、額外補償?shù)葐栴}，請大家詳細閱讀EN 583.
關(guān)于ASME的規(guī)定，有自己的道理，與我們的國情有關(guān)，諾諾問一下，如何理解校驗試塊表面狀態(tài)代表典型的被檢測工件表面狀態(tài)？我們外面賣的試塊可行嗎？如有差別，應(yīng)如何修正？
哈哈！！！