數(shù)字成像檢測X射線源至工件表面的距離 f 公式

NB/47013-201X選擇AB級：f≥10d·b2/3
ISO17636.2選擇AB級： f≥10d·b/（t）1/3
ISO17636.2選擇B級： f≥15d·b/（t）1/3
分別計算：設(shè)d=0.4mm、b=80mm、t=8mm
結(jié)果： f≥10d·b2/3      ------74mm；？                       
f≥10d·b/（t）1/3         ------    160mm            
  f≥15d·b/（t）1/3         ------  240mm
Ug分別為：0.43mm/0.2mm/0.13mm
如按國內(nèi)送審稿規(guī)定公式計算f的距離為74mm，工件表面至探測器的距離b為80mm，幾何不清晰度為0.43mm，f是否合適？

學(xué)習(xí)了，繼續(xù)！

{:soso_e163:}

你搞混了，47013現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)布，規(guī)定也與你的送審稿一樣，只不過他是比較籠統(tǒng)的，也就是你那個公式的計算是按照膠片成像或者是曲面探測器計算的，而對于數(shù)字平面探測器成像，如你帖子中說的Varian的非晶硅探測器當(dāng)然是有問題的！

T=80mm，b=80mm？？？？？

t=8mm，b=80mm？？？？？