關于掃查靈敏度的問題

1、當我們在試塊上做好DAC曲線之后，大家總是不假思索的”啪啪啪“提高n個dB就去現場檢測去了。正確嗎？好像沒人懷疑，國內標準這樣寫的，老師這樣教的。我認為可能全錯了？
2、當缺陷沒有發現，或外行或領導懷疑時，總是會說再提高點靈敏度試試看，好像很專業。但是任何事情都是相對的！
3、為什么我們的規程翻譯成英文，歐美人看不懂，而歐美的超聲規程，尤其按照ASME編寫的規程尤其簡捷？
4、在編寫規程時，ASME寫的肯定沒錯；ASME沒寫的，我們添上去的，可能還要思考？

liuhonghui 發表于 2014-3-8 20:41
我的回答是肯定的，呵呵

掃查靈敏度是我們在掃查時并不能確保每個顯示被聲束中心擊中，因為一般采用6分貝聲場進行覆蓋，故此時應額外增加6分貝，確保所有的可能在聲束中心達到評定/記錄線的顯示被發現！

掃查靈敏度不一定要提高6db
這個要看工件的表面定

學習了，謝謝大家

學習學習學習

學習

查靈敏度、基準靈敏度有什么區別？表面補償增益是加到系統里了還是缺陷反射波里？

掃查靈敏度、基準靈敏度有什么區別？表面補償增益是加到系統里了還是缺陷反射波里？

掃查靈敏度不會影響探傷結果的，

學習了，收藏

只要有足夠的靈敏度，保證小缺陷不被漏檢，沒必要糾結于是否應該增加ndB作為掃查靈敏度。實際操作中提高6dB作為掃查靈敏度，也可以把整個曲線的靈敏度提高6db，和調高ndB的效果是一樣的。其實爭議最大的應該是缺陷的定性問題，ASME第八卷附錄12中規定：1：超過20%參考線的缺陷就應考慮，超過100%參考線的缺陷有相對應的長度規定；2：不能有裂紋、未熔合、未焊透。問題是：沒有超過參考線，卻高于20%參考線的缺陷，檢測雙方如果有分歧如何界定？

那一刻 發表于 2014-3-13 01:02
讀懂了樓主的意思，事情往往就是這樣，把簡單的事搞復雜很簡單。
用直探頭掃查（底波調節法）時我就沒用“ ...

ASME  SA388

9.2.2.1 Back-Reflection Technique (Back-Reflection Calibration
Applicable to Forgings with Parallel Entry and Back
Surfaces) —With the attenuator set at an appropriate level, for
example 5 to 1 or 14 dB, adjust the instrument controls to
obtain a back reflection approximately 75 % of the full-screen
height from the opposite side of the forging. Scan the forging
at the maximum amplification setting of the attenuator (attenuator
set at 1 to 1). Carry out the evaluation of discontinuities
with the gain control set at the reference level. Recalibration is
required for significant changes in section thickness or diameter.

評述：5 to 1是14dB；下面的 1 to 1 就是0dB，只是ASME沒在進一步像上文說明，實際上就是不需要提高靈敏度。