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          [請教] 鍛件超聲波檢測中密集缺陷如何評定

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          查看28172 | 回復19 | 2012-11-14 12:38:17 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
          現(xiàn)有一根鍛件軸進行超聲波檢測,檢測標準JB/4730,以2mm當量掃查,發(fā)現(xiàn)圖中的缺陷,請問此類缺陷如何評定,是否按照密集缺陷評定?

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          沙發(fā)
          丁偉臣 | 2012-11-14 17:55:38 | 只看該作者
          從圖上可以看出你使用的探頭不適當,耦合不佳!請重新改變探頭進行檢測。
          偉臣答疑回來啦!
          板凳
          蘭州李磊 | 2012-11-15 09:12:07 | 只看該作者
          丁偉臣 發(fā)表于 2012-11-14 17:55
          從圖上可以看出你使用的探頭不適當,耦合不佳!請重新改變探頭進行檢測。 ...

          謝謝丁老師指教,我用的是頻率2.5MHz直徑14mm的直探頭,軸的直徑在150~200之間,是要選擇直徑更小的探頭嗎?
          地板
          丁偉臣 | 2012-11-15 09:55:02 | 只看該作者
          應選擇合適的探頭,包括晶片尺寸(最大1/10圓柱外徑)、保護膜類型:軟膜、和適當?shù)慕鼒鲩L度(1/4外徑)來保證耦合和避免三角回波!
          偉臣答疑回來啦!
          5#
          蘭州李磊 | 2012-11-16 09:48:19 | 只看該作者
          丁偉臣 發(fā)表于 2012-11-15 09:55
          應選擇合適的探頭,包括晶片尺寸(最大1/10圓柱外徑)、保護膜類型:軟膜、和適當?shù)慕鼒鲩L度(1/4外徑)來 ...

          謝謝丁老師解疑。還有一個問題,就是如果在探頭耦合好的情況下,若在一次波和始波之間出現(xiàn)圖中的波,波高低,但反射點多,該如何判定,是否跟所選用的標準有關?
          6#
          丁偉臣 | 2012-11-16 20:11:22 | 只看該作者
          根據(jù)相關的標準執(zhí)行,比如ASTM\JB4730\EN 10228-3都有不同的規(guī)定。
          偉臣答疑回來啦!
          7#
          wjjxuey | 2012-11-21 15:30:45 | 只看該作者
          本帖最后由 wjjxuey 于 2012-11-21 15:34 編輯

          估計是芯部的疏松。。。
          隨著知識面的拓寬,感覺現(xiàn)在NDE這一塊的壓力越來越大了,傳統(tǒng)技術已經(jīng)漸漸不能適應目前檢測發(fā)展的趨勢。如果不及時充電,提高自身,將很快被...
          8#
          賀樹春 | 2012-11-27 11:08:03 | 只看該作者
          1: 鍛件表面粗糙度會影響。
          2:調(diào)質或者熱處理不當。
          3:探頭耦合效果和探頭接觸面不是很好。
          低調(diào)做人,高調(diào)做事。
          9#
          賀樹春 | 2012-11-27 11:11:25 | 只看該作者
          4:補倉一下-和環(huán)境溫度還有一點關系,你們在蘭州現(xiàn)在溫度很低。
          低調(diào)做人,高調(diào)做事。
          10#
          蘭州李磊 | 2012-11-27 11:38:30 | 只看該作者
          賀樹春 發(fā)表于 2012-11-27 11:11
          4:補倉一下-和環(huán)境溫度還有一點關系,你們在蘭州現(xiàn)在溫度很低。

          感謝您的解答,我知道環(huán)境溫度會對缺陷的定位產(chǎn)生影響,尤其是在焊縫檢測時,但環(huán)境溫度還會產(chǎn)生雜波嗎?這個不是很明白,請您詳細解釋一下!
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