關(guān)于鍛件外圓斜探頭檢測

只看該作者 · 2012-5-16 08:31:59

本人在鍛件檢測中發(fā)現(xiàn)：外圓用(2.5M，4M)斜探頭檢測時(shí)光潔度低的情況下R≤12.5近表面的雜波比較多，感覺不好探，請問外圓光潔度多少適合檢測

丁偉臣 · 2012-5-16 11:29:29

與頻率、晶片尺寸、耦合劑類型和耦合壓力有關(guān)！以上情形采用低頻探頭進(jìn)行檢測。

luolang1314 · 2012-5-16 15:49:54

標(biāo)準(zhǔn)上超聲檢測一般要求表面光潔度Ra不低于6.3 微米。

luolang1314 · 2012-5-16 15:51:13

可以考慮軟膜、低頻探頭進(jìn)行檢測。

星火 · 2012-5-21 23:01:56

我感覺和光潔度關(guān)系不是太大吧，主要是曲率、耦合效果等因素影像的。

賀樹春 · 2012-5-30 15:02:05

1：主要是曲率，你可以使用小晶片探頭檢測。
2:查鍛件正火沒有。

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