相控陣儀器如何進行校驗？

我們知道常規的A掃描超聲檢測儀器需要對其“水平線性，垂直線性，動態范圍，盲區，分辨力，靈敏度余量”等進行測試，以判斷儀器是否達到標準。相控陣也是基于A掃描的原理，那么相控陣如何進行校驗呢？  校驗的內容是否也是上述幾種？ 或者還有其它校驗的內容？  請各位高手不吝賜教，謝謝

糟老頭子 發表于 2012-6-24 22:02
E SCAN :受教了；
VPA：只要是相控陣，都有VPA這個感念。S CAN中，是有固定的虛擬探頭孔徑（大多數相控陣 ...

VPA 只有L-SCAN才有  S-SCAN里面直接用角度度數命名  而不是VPA  你說的16，32那個叫element  中文叫單元  VPA準確的叫法是虛擬探頭窗口  A=Aperture中文翻成窗口  你可以去看看窗口和單元的關系  一個VPA可以由好幾個單元組成的  VPA可以看作是L-SCAN里面虛擬探頭   而不是探頭里面的單元   還有128 256那個叫channel 通道   這些都是基本概念   你要搞清楚才行

水平線性和垂直線性都是儀器的性能  所以  你只要用一個探頭校驗就行了    你校驗傳統儀器的線性會用45 60 70分別去校驗一次么：）

至于探頭的性能  你只要觀察S-SCAN圖像不就好了 ？
至于那些分辨力的概念   你探頭放置的那個表面就是近表面  底面就是遠表面  軸向和角度分辨力 你顧名思義就行了

綜合來看  你有些基本概念不夠清楚啊  ：）

這些都是很簡單的問題  你基本概念很清楚的話 很多問題都迎刃而解了

特殊技術的儀器校驗仍處于空白階段，好帖！支持！

你這么問估計應該沒怎么過PAUT吧
目前來說
各家的儀器校驗是不一樣的   不過  聲速  聲程  肯定是每個儀器都必須校驗的  接下來  各家可能就不同了   
比如奧林巴斯 除了 聲程  聲速   還有 探頭延遲  靈敏度校驗
SIUI 則是直接從S-SCAN的圖像來校驗
你這種問題問了 沒什么太大意義   
你沒做過的話  跟你說了 你也不明白的

happynation 發表于 2012-6-22 21:18
你這么問估計應該沒怎么過PAUT吧
目前來說
各家的儀器校驗是不一樣的   不過  聲速  聲程  肯定是每個儀 ...

我說的不是校準，請注意：是校驗  是對機器性能的檢驗

糟老頭子 發表于 2012-6-23 15:06
我說的不是校準，請注意：是校驗  是對機器性能的檢驗

暈死
第一次聽到 還有校準和校驗兩個屬于的區別   麻煩你解釋一下他們各自的定義吧
校驗只包括 儀器性能？  探頭性能如分辨力  波束等不需要校驗的 ？
按照ASME的規定在PAUT里面是需要校驗 focal law（探頭聚焦規則）的
奧林巴斯的探頭延遲校驗和靈敏度校驗就是對聚焦規則的校驗   
而SIUI 則沒有這兩個步驟  他聚焦規則校驗是直接通過計算然后對具體圖像進行校驗
目前PAUT的聚焦規則校驗  也就是一說   規范要求你進行聚焦規則校驗  但是  具體步驟沒有規定   因為各家的儀器校驗步驟差別很大  
我跟你說了    你要是沒做過  將給你聽 你也是不理解的   就像我說的說 延遲校驗 靈敏度校驗    或者 E-SCAN S-SCAN L-SCAN 或者VPA 這種  你要是沒做過   你確定你懂我在說什么意思？

HAPPYNATION不要曲解別人的意思，我們談論的是儀器本身的周期校驗，而你講的是每次檢測前系統的校準。現在有哪個標準規定了PAUT的儀器校驗？請指出！

丁偉臣 發表于 2012-6-23 21:22
HAPPYNATION不要曲解別人的意思，我們談論的是儀器本身的周期校驗，而你講的是每次檢測前系統的校準。現在 ...

ASME V  Article4的 強制性附錄4里面有說到
除了常規的要求以外  還有要求聚焦規則和聲束的校驗   但是  寫的很模糊
然后 非強制性附錄 E 里面有提供一個試塊  但是也沒有具體的要求   就說跟實際的尺寸對比

所以  我的理解是計算機成像技術的UT滿足 一般數字機的要求就行了   還有跟實際的缺陷對比就行了    SIUI有一個專門的試塊測試儀器性能的  挺不錯的 但是我問他們是根據哪個標準做的  他們很含糊的說是ASME  但是我看了跟ASME并不一樣      國外的培訓中心也有 試塊   但是也是自制的

happynation 發表于 2012-6-23 21:02
暈死
第一次聽到 還有校準和校驗兩個屬于的區別   麻煩你解釋一下他們各自的定義吧
校驗只包括 儀器性 ...

奧林巴斯的儀器，舉個例子：Epoch 1000i。校準的步驟分三步：聲速，探頭延遲，增益。
首先先校準聲速，然后進行延遲和增益的校準。先后順序無所謂。但想要得到精確的探頭延遲校準，可在聲速后先校準增益。
校準聲速：校準聲波在工件中傳播的速度；
校準探頭延時：因為相控陣是由多個角度組成的一束聲束，所以每一個角度在楔塊中傳播的距離是不相等的，校準延時的作用就是為了讓每條聲束從進入工件那一時刻開始算起；
校準增益：如第二條所述，相控陣是一個發散的聲束，其間有多個角度。所以每個角度在工件中傳播的時間不等，因此會造成在同一深度，各個角度看到的不連續圖像會不一樣。具體表現為：小角度的波高大于或小于大角度的波高（小于還是大于要看近場區的分布情況）  


我只是想問問相控陣的儀器該怎么“校驗”，就像我們常規的A scan儀器要校驗水平現行和垂直線性等。可能我的用詞不準確。明白意思就好。當然我所謂的校驗是對儀器和探頭整個性能的檢驗。
您對相控陣熟悉，還請多加指點。謝謝

A SCAN:常規A掃描
B SCAN:側視圖
C SCAN:頂視圖
E SCAN:不知，請指教
L SCAN:側視圖  線性掃描
S SCAN:端試圖 扇形掃差
VPA:虛擬探頭孔徑，是把多少個晶片作為一個“虛擬探頭”來一次激發超聲波

糟老頭子 發表于 2012-6-24 04:36
A SCAN:常規A掃描
B SCAN:側視圖
C SCAN:頂視圖

E-SCAN 就是電子掃描的意思  一個探頭里面通過電子控制形成不同的虛擬探頭進行掃描
VPA 則是特指L-SCAN里面的虛擬探頭  S-SCAN里面是沒有VPA這個概念的
L-SCAN是指線性掃查
S-SCAN 則有兩個含義  可以指扇形掃查   也可以指端視圖

測試的時候  當然一開始你要輸入探頭 楔塊的型號  然后制定一個檢驗方案 根據檢驗方案輸入聚焦規則  
校驗部分 首先校驗聲速  接著是校驗探頭延遲  然后是靈敏度校驗（就是你說的增益校驗）  再做一個至少三點的TCG   最后優化顯示窗口    就可以開始進行檢測了    按照你的表述  你前面的步驟及其作用都明白了啊  你說的三步做完了   再做一個TCG就可以了   優化窗口是不是做  其實也沒太大關系

PAUT的儀器性能校驗  一般傳統UT需要做的  PAUT都需要做  另外  PAUT還有些特殊要求  比如 周向分辨力   角度分辨力   遠表面 近表面分辨力  包括上面提到的探頭延遲  靈敏度校驗    但是 這些參數除了 探頭延遲和靈敏度校驗有推薦數值以外  其他的參數貌似沒有看到具體規定  只能說用來測試  你儀器的極限性能是多少  但是  并非有強制規定

其實根據我的理解 PAUT的性能只要達到傳統UT的那些要求  目前來看就算是合格的了    然后你對比圖像和真實的人工缺陷  能夠對上就行  但是容許多少誤差  沒有看到相關規定   一般來說不會有很多誤差 因為 圖像都是基于A-SCAN生成的   而A-SCAN的準確性你已經檢查過了