關(guān)于使用ASME 標(biāo)準(zhǔn) 焊縫超聲檢測(cè)，探頭參數(shù)確定問(wèn)題 .

不知道有多少人使用ASME 標(biāo)準(zhǔn)第五卷第四章對(duì)焊縫進(jìn)行[color=#444444 !important]無(wú)損檢測(cè)，同樣前幾天有人論壇里問(wèn)“ASME標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)奧氏體焊縫怎么執(zhí)行”。這里想與大家先就標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題進(jìn)行討論；我們進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，肯定先要確定探頭參數(shù)：頻率和角度。在ASME 標(biāo)準(zhǔn)中：規(guī)定頻率可以是1~5MHz，探頭角度應(yīng)能覆蓋被檢測(cè)工件焊縫及熱影響區(qū)的100%范圍。并且說(shuō)，選擇頻率時(shí)應(yīng)確保穿透力和信躁比。
1、ASME中，寬泛的要求使得我們無(wú)法實(shí)際進(jìn)行操作。因?yàn)槲覀儥z測(cè)者都已經(jīng)習(xí)慣于標(biāo)準(zhǔn)對(duì)我們進(jìn)行約束、規(guī)定。比如4730標(biāo)準(zhǔn)，探頭頻率和角度有詳細(xì)規(guī)定，那么在參考ASME標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，如何制定詳細(xì)工藝。 有人說(shuō)“這就要求寫(xiě)無(wú)損檢測(cè)規(guī)程的原因”，但是發(fā)現(xiàn)：很多規(guī)程中只是把標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容照搬下了，不具有具體指導(dǎo)意義。那么如何才能確保檢測(cè)結(jié)果的可靠性那？
2、關(guān)于探頭角度，標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)應(yīng)制作模擬試件來(lái)驗(yàn)證能覆蓋被檢測(cè)工件。那么在實(shí)際工作中，難道需要對(duì)每種結(jié)構(gòu)的焊縫都要做相同的模擬件嗎？具有可操作行嗎？
3、關(guān)于探頭的頻率，標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)1~5MHz都是可以的。但是，我們都知道不同的厚度，不同的材質(zhì)，影響了探頭頻率的選擇。標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)要保證穿透力和信躁比。一般情況，焊縫厚度不是十分大的時(shí)候，穿透力都可以保證。現(xiàn)在又提到“信躁比”的要求。在實(shí)際工作中，大家估計(jì)很少在乎“信躁比”的概念。還是關(guān)于“信躁比”的問(wèn)題繼續(xù)討論。在粗晶材料中，由于雜波的影響，導(dǎo)致“信躁比”很低。但是在普通碳鋼中，“信躁比”能否起到選擇探頭頻率參數(shù)的依據(jù)作用那？  在ASME  II   SA577標(biāo)準(zhǔn)中，：““信躁比”應(yīng)大于3:1，或者10dB”。能否根據(jù)此參數(shù)確定最佳頻率那？  如何確定？
4、對(duì)于我個(gè)人理解而言，對(duì)焊縫[color=#444444 !important]超聲檢測(cè)的工藝制定需要工程師具有很高的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)只是一種最低要求。但是如何執(zhí)行使得檢測(cè)結(jié)果變得準(zhǔn)確那？這視乎是實(shí)際中面臨的問(wèn)題。
希望大家發(fā)表意見(jiàn)

楓林晚 發(fā)表于 2013-7-19 14:58
還有一點(diǎn)就是：關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)上沒(méi)有規(guī)定的檢測(cè)，比如復(fù)合板材的對(duì)接焊縫、異種鋼焊接接頭等等遇到這種情況，做UT ...

所以，我們平時(shí)進(jìn)行檢查的時(shí)候，包括與建造方進(jìn)行討論時(shí)候，都在尋找有利的證據(jù)，那就是標(biāo)準(zhǔn)上規(guī)定的內(nèi)容。那么對(duì)于ASME這樣的標(biāo)準(zhǔn)，我想同樣的規(guī)格尺寸，會(huì)出現(xiàn)很多檢查方案或工藝，這樣可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果的不一致性或者不統(tǒng)一。我現(xiàn)在還是想不明白，應(yīng)該如何做才是規(guī)范的。

學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)了

{:soso_e104:}根據(jù)你單位的實(shí)際情況再按標(biāo)準(zhǔn)的要求寫(xiě)就基本上可以了。

{:soso_e194:}

學(xué)習(xí)了，

我有個(gè)公式，計(jì)算頻率的：
6DM<V/F<4R；
V:聲速、F:頻率、DM:平均晶粒尺寸、R:最小檢出缺陷大小

{:soso_e104:}{:soso_e200:}