相控陣

     改行回家了，但還是對這個技術很留戀，畢竟花了很多的心力學習。有幾個問題一直在心中，這半年都在想別的，沒時間學習相控陣。就把以前想的幾個問題列出來，分享給大家。這項技術前景肯定很好，值得大家用心研究。
   1、效率，要提高效率就得增加掃查率，掃查率受到脈沖發射頻率的限制，脈沖發射頻率由最大角度聲程決定，根據檢測對像、方法的不同都會存在最大掃查率。
   2、角度步進，角度步進如果轉換成掃查步進就很容易發現問題。角度步進是等值的，但是由于聲程的增加，掃查步進是在不斷增加的。
   3、聚焦，有篇文章寫過聚不聚焦的問題。舉個例子，5L64的探頭，用16晶片，能實現聚焦的范圍非常小（書上寫過最佳聚焦范圍在0.2N—0.8N）其他范圍的聚焦都是沒用的，和相應角度的斜探頭一樣，都算是平面的晶片，沒有聚焦作用。有條件的可以用試塊（專用）去驗證，焦點波幅最高，是一個向下開口的拋物線。如果要利用聚焦這一特性，必須要考慮晶片尺寸，頻率，檢測聲程范圍。特別要記住0.2N—0.8N這個范圍，好像有些模擬可以聚焦到這個范圍之外（沒有驗證過，也可以我看錯）。
   沒考慮好，就想到這三個方面。問題1，以前想過多組來提高效率；問題2，用二次波覆蓋，二次波不同角度間間距有多大，會引出哪些問題；問題3，聚焦點能量集中，但我們要用的聲程范圍如果大于焦點正負6dB的范圍，有沒有問題。對于聲程跨度比較大的，增益補償夠不夠，用合理的聚焦能不能解決？

   還有掃查架對特定結構，檢測工藝等。

看完了你寫的帖子，非常贊。兄弟你不干了，NDT行業又少了一位人才！

看完了你寫的帖子，非常贊！

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又一位改行了，我想改行！