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遠東無損檢測資訊網

標題: 無損檢測在線問題解答 [打印本頁]

作者: 丁偉臣 時間: 2010-10-10 20:28
標題: 無損檢測在線問題解答
倡議在此空間成立無損檢測在線問題解答專區，大家將工作中遇到的問題在此曬出，征求解決方案。感興趣的同仁在此獻計獻策，共同促進無損檢測應用能力和水平的提高！

作者: furulong 時間: 2010-10-11 08:49
這個倡議很好，可以提供相互交流的一個平臺，支持！

作者: 強天鵬 時間: 2010-10-11 10:06
支持！參與！

作者: ZMJ 時間: 2010-10-11 11:30
很好的建議！支持

作者: 一級片 時間: 2010-10-30 20:06
支持！我不懂就在這里問了！樓上各位大師跟你們混了！

作者: jirenping 時間: 2010-12-10 16:42
關于返修幾次才換板，各位大哥有什么標準和工藝？

作者: liurong 時間: 2010-12-21 17:11
思路很好，支持！

作者: xcb526 時間: 2011-1-31 08:40

強烈支持！

作者: George 時間: 2011-3-23 16:18
各位同行好！我現在正在使用ASME標準，遇到可能要在凹面上做超聲的問題，不知道ASME 哪里有在凹面上掃查的依據，怎么做，相關的試塊和在凸曲面上掃查一樣嗎？
譬如說從管道內壁用斜探頭做環焊縫超聲檢測，從管道內壁用直探頭做附在外壁上的角焊縫等
求答。。。

作者: 李濟科 時間: 2011-3-23 17:16

響應、支持！今后我提問的帖子在這里發。希望同行不吝賜教。

作者: xcb526 時間: 2011-3-26 19:25
Me too

作者: wangdao5178 時間: 2011-4-4 15:58
關于4730中關于深孔的評定的問題，哪幾類貨什么樣的容器屬于致密性要求過高的容器？有沒有具體的規定比如說毒性介質的或者壓力多少的？還有就是究竟什么程度的黑度才算是黑度較大呢？能不能量化來講，比如比母材大多少或者其他之類的經驗值.有個可比性也好心里有底啊，多謝，感激不盡
.

作者: hebutszb 時間: 2011-4-8 22:27
支持并參與

作者: George 時間: 2011-5-12 08:05
最近遇到一個小問題：磁粉檢測后會對焊接有影響嗎？譬如在焊縫的破口上做常規磁軛MT探傷，會對以后的焊接有電磁影響?如電弧偏吹？煩各位幫忙解答。

作者: NDT513 時間: 2011-5-13 15:12
支持！參與！

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-16 20:17
由于正常使用磁軛為交流電，在磁軛離開的同時，也就對檢測磁化的焊縫/坡口進行了退磁處理，故一般不會對焊接形成影響。

作者: George 時間: 2011-5-24 14:18
大家好！我看了標準對檢測面的粗糙度有要求，但是沒有看到對檢測面的平整度要求，現在遇到這個問題，不知道在哪里可以查到相關要求？

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-24 15:02
何種檢測方法？檢測儀器？
能否將你遇到的問題詳細描述？

作者: George 時間: 2011-5-24 17:28
不好意思，常規的超聲檢測，表面狀況，有點起伏

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-24 19:01
EN1714 第8條規定，檢測表面的不平整造成的探頭與工件表面的最大間距不應大于0.5毫米。

作者: George 時間: 2011-5-24 20:39
謝謝丁工，這個標準我也看到了，但是現在執行的是ASME標準，不知道ASME標準上有沒有相關規定或知識？如果引用EN標準，又變成標準體系變化的問題，不知道EN規定0.5mm這個數值的原理是什么？
另外，我試圖從曲面考慮這個問題，參考JB/T4730標準5.1.3.4 檢測曲面工件時，如檢測面曲率半徑R=<W2/4時（W為探頭接觸面寬度，環縫檢測時為探頭寬度，縱縫檢測時為探頭長度），應采用與檢測面曲率相同的對比試塊。也就是說只要滿足R>W2/4時,就不用對比試塊，可以認為曲面耦合可以接受的，根據這個公式計算間隙的臨界值就行了，不知可否？也不知標準上的公式是怎么來的？

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-24 21:17
ASME V T471.5規定：當焊縫或母材影響檢測應進行必要的修磨；
ASME SE 114 6.1.3.3有與EN1714相當的規定，要求不大于0.5毫米，但必須充滿合適的耦合劑。

作者: George 時間: 2011-5-26 15:15
哪位同行知道ASME標準對Ir-192透照厚度范圍的規定在哪里？小弟找半天只找到對于100KV~500KV能量有2.5~10個半值層的規定。

作者: George 時間: 2011-5-26 15:18
感謝丁工的解答！

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-26 18:15
哪位同行知道ASME標準對Ir-192透照厚度范圍的規定在哪里？小弟找半天只找到對于100KV~500KV能量有2.5~10個半值層的規定。
無具體要求，只要黑度和靈敏度合格就行。

作者: George 時間: 2011-5-26 21:43
丁工，我看E94第7條能量的選擇，對于100KV~500KV能量照射2.5~10個半值層厚度物質，可以獲得滿意的結果，而Ir-192相當于400Kv的能量，其鋼的半值層為8.9mm，故透照厚度為22.25~89mm之間，是否可以認為是標準的規定？
但是我看到國內的中外標準對比相關論文說ASME標準規定Ir-192透照厚度為>=19mm,所以有疑問? 請多指教。

作者: 丁偉臣 時間: 2011-5-29 14:29
本帖最后由丁偉臣于 2011-5-29 14:34 編輯

美標中強調檢測結果---演示驗證檢測工藝是否滿足要求---孔型像質計的識別：對比度（至少３邊可見）和清晰度（小孔清晰可見）。－－－故Ｉｒ１９２源的透照范圍不應僅限制在２０～１００毫米，可能更寬。
歐標由于絲型像質計的使用，不能直接獲得對比度的信息，因為我們絲的可見是對比度和不清晰度的綜合。－－－故要求過程參數的控制保證一定的檢測質量。另：歐標規定一般的檢測對象可直接執行檢測標準，無須工藝驗證。
不同的文化導致不同的規定。其實如果更好的膠片系統或透照工藝的應用，放射源的厚度覆蓋范圍可能更廣，比如在歐標中對應的中心透照特殊規定。

作者: George 時間: 2011-5-30 09:03
謝謝丁工，小弟受教，感激不盡！

作者: George 時間: 2011-6-20 12:23
同行們，請問射線源透照工件，一般情況下，如果源強Ci數過小，致使曝光時間過長，會對射線照相質量產生影響嗎，會產生什么影響？（例如不清晰度，對比度等）

作者: 丁偉臣 時間: 2011-6-20 22:04
已回答，見我的留言！

作者: 大俠 時間: 2011-12-20 08:37
{:soso_e179:}

作者: 呂文鵬 時間: 2011-12-20 10:49
好主意！{:soso_e179:}

作者: ZGP 時間: 2011-12-20 11:35
這個倡議很好

作者: zyylrq 時間: 2011-12-20 12:16
主意很好支持！

作者: ranyong 時間: 2011-12-20 23:04
不錯的建議！支持！

作者: 王緒軍 時間: 2011-12-22 19:32
我提一個問題支持一下。
對接焊縫超聲波檢測，發現一缺陷，同一探頭，不同廠家的超聲波探傷儀檢測，最高波幅相差很大；是什么原因？

作者: 丁偉臣 時間: 2011-12-23 20:08
一般來說儀器的特性對所有的常用探頭具有一定的穩定性和重復性，即使儀器的脈沖和帶寬有別。
工作中曾遇到同樣的探頭和儀器，在使用一段時間后，同一反射體的回波升高較多的情形----探頭晶片破損與基體局部分離，導致阻尼降低！

作者: 王緒軍 時間: 2011-12-23 22:51
可能是我沒有說清楚：
對接焊縫超聲波檢測，執行GB11345-89標準，發現一缺陷，使用同一探頭，2個廠家的超聲波探傷儀檢測，缺陷最高波幅一個超過判廢線，一個僅僅在1區；是什么原因？

作者: 強天鵬 時間: 2011-12-23 23:42
檢測前是否用同一對比試塊（比如CSK2A或CSK3A)校準過2個廠家的超聲波探傷儀？，如果校準過，就不應該出現這一情況！

作者: kuailaira9 時間: 2011-12-28 02:42
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽

作者: zxz 時間: 2012-1-10 18:20
強烈支持

作者: 依蘭絲柏 時間: 2012-1-15 15:34
本帖最后由依蘭絲柏于 2012-1-16 08:20 編輯

請教下老師：
數字機水平線性、盲區、分辨力的性能測試如何操作

作者: 下蔡庶民 時間: 2012-2-2 14:52

George 發表于 2011-5-26 21:43
丁工，我看E94第7條能量的選擇，對于100KV~500KV能量照射2.5~10個半值層厚度物質，可以獲得滿意的結果，而I ...

這里提到了Ir-192相當于400Kv的能量，請問這個換算的公式和依據在哪里？
KV與MeV的關系在我們的教材有沒有相應的說明?
非常感謝解答。

作者: 丁偉臣 時間: 2012-2-6 20:22
數字機水平線性、盲區、分辨力的性能測試如何操作：
水平線性的測定，數字機與模擬機相同；
盲區和分辨力是儀器與探頭組合的性能測定，操作按照不同的標準，在不同的試塊上，進行測定，方法中不分數字設備和模擬設備。

作者: 丁偉臣 時間: 2012-2-6 20:30
KV：X管兩端高壓值
KVp:X管兩端高壓峰值
MeV：有效能量單位，1MeV為1個電子在1MV高壓下獲得的最大能量。
Ir-192相當于400Kv的能量，因為其能譜的平均能量為0.355MeV.

作者: NDT無損檢測 時間: 2012-2-9 11:18
[b]這個平臺號，我以后有問題在此請教。{:soso_e100:}

作者: NDT無損檢測 時間: 2012-2-9 11:18
這個平臺好的。

作者: 牛牛扭扭 時間: 2012-2-10 21:22
這個平臺好的。

作者: 張合方 時間: 2012-2-13 10:35
支持！

作者: 鐵牛7200 時間: 2012-2-14 14:20
這個平臺很好，支持一下。

作者: 嘎詠峰 時間: 2012-3-1 11:28
好，多多學習。

作者: 大俠 時間: 2012-3-1 14:29
[attach]2353[/attach]{:soso__5462389604067913156_1:}

作者: szlinxd 時間: 2012-3-3 14:29
請問大家超聲波的探頭線的型號有哪些啊？各適用什么樣的探頭。

作者: NDT無損檢測 時間: 2012-3-3 14:35

jirenping 發表于 2010-12-10 16:42
關于返修幾次才換板，各位大哥有什么標準和工藝？

要看什么材料，用于什么產品，一般情況不超過三次返修！

作者: NDT無損檢測 時間: 2012-3-3 14:39
{:soso_e189:} 支持

作者: NDT無損檢測 時間: 2012-3-3 14:42
{:soso_e179:}

作者: 滾燙的小米粥 時間: 2012-3-7 13:54
關于磁粉探傷的小問題。關于磁軛提升力的，現在的單磁軛提升力效驗由于磁軛是一邊尖角，另一邊接觸面積比較大，我們一般效驗時以哪一側為主呢

作者: 滾燙的小米粥 時間: 2012-3-7 14:04
再問一下關于超聲波或者射線超過三次翻修的處理辦法，如果說作廢這類的我就不要了，只想問可行的處理意見，請指教。

作者: 丁偉臣 時間: 2012-3-7 20:04
提升力與磁通量有一定的關系，但不一定提升力符合要求，我們檢測區域的磁化強度就能達到檢測的需要。
在此，應強調在產品制造型式產品時，應測量標準試塊上中心區域的磁場強度和提升力，在確保合格后，檢測過程中，才可用提升力監控設備的可用性。經實際比對試驗，當磁極與工件接觸為點接觸時，磁化強度大約下降30%左右，你說應該如何呢？
返修次數，不是無損檢測問題，是焊接工藝問題，從焊接工藝基礎知識將，不同的材質可能承受不同次數的返修。但作為法規，我們不能知法犯法，一些書本上的東西沒有寫入法規，或經過驗證，慎用。

作者: 滾燙的小米粥 時間: 2012-3-9 08:01
也就是說提升力并不是考量是否能檢出缺陷，而是應該有標準試片來衡量，對嗎？我個人覺得提升力只是校驗設備的一個參數。另外測量提升力指的是點接觸嗎？還有現在的磁探機磁軛做成一面尖角，一面鈍角的，按照我個人習慣是接線端在小指頭后，這樣拉磁探機時感覺磁力不是很足，想問一下這種設計是我握法有問題嗎，用靈敏度試片兩者也都一樣。

作者: 丁偉臣 時間: 2012-3-9 11:21
驗證磁粉檢測系統的綜合性能的方法中，標準試片僅是其中的一種，最佳的方法是使用帶有臨界缺陷的實際工件。點接觸設備在實際應用中應避免使用因為不佳的磁化效果。如感覺到磁力不足，檢測應立即停下。

作者: qdgt 時間: 2012-5-2 12:44
互通有無，互相學習，共同進步，絕對支持！

作者: zyylrq 時間: 2012-5-2 17:21
強烈支持！！！

作者: zyylrq 時間: 2012-5-2 17:25
丁工您好！請問底片曝光后受折，他們留下的痕跡都是黑色的影像，這是什么原因?

作者: 丁偉臣 時間: 2012-5-2 17:34
壓力作用引起增加額外的曝光，從而增加了局部的黑度！

作者: zyylrq 時間: 2012-5-2 17:53
壓力也能使底片曝光嗎？（光子或電子才能使溴化銀感光嗎？）

作者: 阿德哥 時間: 2012-5-6 16:39
頂一下！

作者: zyylrq 時間: 2012-5-7 22:34
[attach]2799[/attach]
丁工！這個問題答案紅筆標的第一句應該是測定缺陷的長度吧！紅筆標的雜亂波峰是指缺陷反射波有多個高點的意思嗎？

作者: 丁偉臣 時間: 2012-5-8 19:46
這是缺陷測高的方法，多點指的是缺陷反射有多個峰值的意思。但該方法有一定的難度，主要是缺陷不是我們想象的那么規則，而且回波的峰值不一定是缺陷的端點，因為在上端點可能存在這樣的端點，但在下端點，就不一定了。故該方法僅是大致的缺陷高度測量方法，主要要于與測試面垂直的裂紋類缺陷的高度測量！

作者: qdgt 時間: 2012-5-9 18:57
完全贊同，堅決支持，熱烈擁護

作者: zyylrq 時間: 2012-5-9 19:04
丁工！這兩個問題中講到的堆焊方向相對母材一般是怎么走向？另外未貼合方向和堆焊方向的關系?

作者: 丁偉臣 時間: 2012-5-9 19:45
有些道理，但不完全！
如果確實要求檢測基層裂紋，應增加斜探頭掃查！
對于堆焊層中焊接缺陷和與基層的熔合類缺陷，雙晶探頭的晶片中間分隔線應平行于焊接方向，同時掃查方向垂直于焊接方向，主要考慮檢測縱向缺陷，如條渣和未熔合類缺陷。
對于檢測基層缺陷，一般為裂紋類，掃查方向并不重要，關鍵是掃查角度了！
如懷疑有裂紋類在堆焊層，最佳的方案是70度或45度斜探頭多角度掃查！

作者: wobuhuaxin999 時間: 2012-5-11 10:07
丁工你好我對超聲探頭這個波形轉換不懂不是橫波不能在液體中傳播嗎？那么加了耦合劑怎么探的呢？

作者: zyylrq 時間: 2012-5-14 21:34
丁工您好！請問在容器封頭或筒體挖補一個圓形焊縫，確定一次透照長度是按縱縫還是環縫，我認為按縱縫比較好，因為K值控制的嚴格。

作者: zyylrq 時間: 2012-5-16 17:54
丁工！潛影中的被還原的銀與顯影后還原的銀有什么區別？為什么潛影不可見！

作者: lilingjian 時間: 2012-5-22 09:00
標題: 空氣比釋動能率的實際應用
本帖最后由 lilingjian 于 2012-5-22 12:41 編輯

想請教大家個問題，探傷工作中用到的計算公式經常有空氣比釋動能率這個概念，而在我們探傷工作輻射防護的應用當中，是否可以大致把它看做和輻射劑量率的含義一樣？比如說離γ源10米處的空氣比釋動能率是2mGy/h，那么人在這個地方所受輻射的當量劑量率也是2msv/h嗎？現行標準規定工作人員每年平均有效劑量限值是20msv，那么工作人員在這個地方一年最多能呆幾個小時呢？是否可以這樣計算：20除以2(2是距源10米處的比釋動能率)等于10，也就是說工作人員一年最多在那個地方累積工作10小時，我的理解正確嗎？

作者: dezhou332211 時間: 2012-5-22 10:16
哪位有或者了解超聲波在材料表面傳播與材料體內傳播的理論？我想弄明白超聲波速度在材料表面和體內的異同（及其是否存在定量關系）。先說聲謝謝！！

作者: XYZ 時間: 2012-5-22 12:11
345B方管對接，壁厚8毫米，J502焊條，V型坡口，坡口間隙4-5個毫米，有襯墊，第一道焊接后，熔池和母材處整條開裂，什么問題？我認為是襯墊的原因（襯墊與方管內壁不緊貼，導致溶滴在固化的同時，往不緊貼的地方流失，連同焊縫收縮的因素，導致開裂，希望有經驗的討論下，有沒我說的這種可能？

作者: 星火 時間: 2012-5-22 20:02
很好的建議，支持

作者: 賀樹春 時間: 2012-5-29 16:46
強烈支持

作者: 檢驗計劃 時間: 2012-5-29 18:54
支持，中國的無損檢測需要這樣一個高水平平臺。

作者: 阿ｓ 時間: 2012-6-1 23:55
復合板的片子厚度是算基層還是基層+復合層呢？

作者: ＂Five_Day~~ 時間: 2012-6-6 09:16
請問下現在考證分地區嗎？就是我一rt2級證是在湖南考的，但是在江蘇的單位工作并注冊。那我現在要考ut2級還可以回湖南考嗎？？

作者: 周小夢 時間: 2012-6-8 09:38
丁工，你好，我有一個問題想向你請教，膠片顆粒度通俗的怎么理解這個概念，它與什么有關？膠片上的顆粒度是鹵化銀，底片上是銀，這兩者有什么聯系和區別。

作者: Endlesslove 時間: 2012-6-8 16:32
頂，支持

作者: songlebin 時間: 2012-6-10 16:52
堅決支持

作者: 丁偉臣 時間: 2012-6-10 18:51
丁工，你好，我有一個問題想向你請教，膠片顆粒度通俗的怎么理解這個概念，它與什么有關？膠片上的顆粒度是鹵化銀，底片上是銀，這兩者有什么聯系和區別。
回答：膠片顆粒度是人眼觀察是，底片上總的溴化銀顆粒分布的總體感官，它于本身溴化銀顆粒、曝光條件、顯影條件、顯影程度、射線能量等有關，溴化銀顆粒是形成膠片顆粒度的基本單位！

作者: szy 時間: 2012-6-12 10:47
{:soso_e179:}

作者: 德德 時間: 2012-6-26 18:55
本帖最后由德德于 2012-7-12 07:42 編輯

{:soso_e100:}各位老師。請教6毫米8毫米10毫米鋼板雙晶探頭的焦距如何選擇。標準上有什么要求。做鋼板探傷。

作者: 劍俠 時間: 2012-6-27 08:27
強烈支持

作者: Endlesslove 時間: 2012-6-27 13:11
{:soso_e179:}

作者: dezhou332211 時間: 2012-6-28 10:12
哪位知道超聲波在物件表面傳播和物件內部傳播的異同及有無數值關系？謝謝

作者: dezhou332211 時間: 2012-6-28 10:13
有這方面資料的請傳一份給小弟好么？謝謝

作者: qhming 時間: 2012-7-3 11:32
請教：為何在GE的UT培訓資料上探頭發出的超聲束圖形與特種設備教材的不一樣，什么原因？見圖片附件

作者: 晨風 時間: 2012-7-7 09:31
丁工，管徑大于500且有兩個及以上丁字縫的壓力管道，抽檢比例是10%，按要求抽拍一個丁字縫就可以了，然而有的人又堅持每個丁字縫都要抽查，是這樣么？有哪個標準規范上有說明？謝謝！

作者: Endlesslove 時間: 2012-7-8 09:39
{:soso_e163:}

作者: L249890962G 時間: 2012-7-9 17:26
強烈支持，好想法，如果有問必答那就太好了

作者: 丁偉臣 時間: 2012-7-10 09:18
qhming:GE的資料是正確的！
晨風：一般來說T字縫應100%檢測，而且不應計算在抽查比例中，可能我們的規范沒表述清楚。

作者: qhming 時間: 2012-7-10 11:18

丁偉臣發表于 2012-7-10 09:18
qhming:GE的資料是正確的！
晨風：一般來說T字縫應100%檢測，而且不應計算在抽查比例中，可能我們的規范沒 ...

丁工，您好：請教-為什么會出現這種差異呢？難道特種設備的教材錯了

作者: 丁偉臣 時間: 2012-7-10 16:33
教材沒錯，只不過是表達的意義不同，我們教材表達的通用探頭通常情形簡化分為不擴散區和遠場，GE表達的是特定的探頭按照6分貝測得的聲場分布。

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