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標(biāo)題: 雙晶探頭晶片尺寸對(duì)缺陷定量的影響 [打印本頁]
          

          
作者: yangjing21    時(shí)間: 2024-11-12 19:05
          
標(biāo)題: 雙晶探頭晶片尺寸對(duì)缺陷定量的影響
          檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)直徑為10的雙晶探頭和直徑為20的雙晶探頭校準(zhǔn)基準(zhǔn)靈敏度差了10dB，請(qǐng)教一下大家是什么原因
          

          
作者: gl9855    時(shí)間: 2024-11-16 15:05
          
可根據(jù)聲壓公式計(jì)算驗(yàn)證。
          
作者: 跳動(dòng)的粒子    時(shí)間: 2024-11-19 09:29
          
聲場(chǎng)中的聲壓是該點(diǎn)受到周圍各質(zhì)點(diǎn)震動(dòng)疊加后的聲壓總和，聲源面積越大，在該點(diǎn)產(chǎn)生的聲壓就越大，接收的回波聲壓也就越大，φ10的探頭回波聲壓要比φ20回波聲壓小10dB是對(duì)的




          

          

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