相位相干成像技術（PCI）早在2009年被提出，它旨在提高超聲檢測圖像的對比度和分辨率。PCI基于評定相控陣探頭所有陣元接收到的信號之間的相干性。PCI圖像的強度取決于指示的自然特性。對于無明顯方向性的反射體，如氣孔，尖端衍射，以及夾渣，其圖像都將顯示很強，因為全矩陣數據采集FMC中多對發射-接收陣元對都能發現該指示，并且信號的相位近乎相同。方向性很強的反射體，如表面、底面、分層、未熔合等，PCI圖像強度低。PCI適用于檢測體積性缺陷（如氣孔和夾渣），并且能夠識別裂紋尖端衍射信號，更好地用于缺陷定量。本文詳細地介紹了PCI檢測和分析的優缺點。