國際著名無損檢測專家Uwe Ewert應邀擔任2017遠東無損檢測新技術論壇學術委員會主席，同時應邀在開幕式上作大會報告。

Uwe Ewert是射線檢測領域理論權威和技術開拓者，多年來引領射線檢測技術發展的前沿，為膠片射線照相技術的完善和數字射線照相技術的發展做出巨大貢獻，主持和參與了多個射線檢測標準（DIN、EN、ISO、ASTM）的起草。

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U.Ewert博士

1979年獲得洪堡特大學物理和理論化學博士學位，論文題目是《用于模擬復雜化合物的電子自旋共振譜》；

1989-1990年在美國康奈爾大學貝克實驗室（Baker Laboratory）擔任客座教授；

2000年在德國材料科學院（BAM）的“無損檢測-射線技術部”擔任主任及教授；

德國無損檢測學會射線專業委員會主席；

德國無損檢測協會（DGZFP）咨詢委員會成員；

國際焊接學會焊接接頭射線檢測學術委員會（VA）前主席；

先后擔任過國際標準委員會（ISO）、歐洲標準委員會（CEN）、美國材料學會（ASTM）的成員或主席；

2005獲得德國無損檢測協會（DGZFP）的Berthold獎；

2009年獲得德國聯邦政府的倫琴（R?ntgen）獎章；

2010年獲得美國材料協會（ASTM）國際布里格斯（Briggs）獎；

2016年獲得英國無損檢測學會（BINDT）夏普（Sharpe）獎。