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作者: liuchangshan 時間: 2015-9-22 09:09
標題: 待更新
本帖最后由地煞符vd 于 2016-7-1 09:27 編輯

待更新~

作者: YL60007 時間: 2015-9-23 09:58
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。

作者: liuchangshan 時間: 2015-9-23 10:45

YL60007 發表于 2015-9-23 09:58
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。

是基于非晶硅的面陣平板探測器的DR成像，不是基于CCD的。

作者: liuchangshan 時間: 2015-9-23 10:48

YL60007 發表于 2015-9-23 09:58
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。

我大概對射線檢測分了類，你參看下。
[attach]11261[/attach]

作者: YL60007 時間: 2015-9-24 08:18

地煞符vd 發表于 2015-9-23 10:45
是基于非晶硅的面陣平板探測器的DR成像，不是基于CCD的。

對，目前這種使用比較多。

作者: YL60007 時間: 2015-9-24 08:29
我們用的是這種。

作者: liuchangshan 時間: 2015-9-24 09:13

YL60007 發表于 2015-9-24 08:29
我們用的是這種。

我們用的是Varian 1313 DX的平板探測器，A/D16位，1*1模式像素尺寸127微米，我查詢了你這款是200微米也可能成像對于細小缺陷的識別更好一點。

作者: DR檢測-老吳 時間: 2015-9-25 09:55
如果對數字化檢測感興趣，可以加 DR數字化無損檢測群 321497431，歡迎大家來探討學習。

作者: liuchangshan 時間: 2015-10-16 11:08
http://www.jinlidl.com/forum.php? ... &extra=page%3D1

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