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標題: 關于TOFD對比試板反射體的問題 [打印本頁]
          

          
作者: hance12    時間: 2015-4-20 11:30
          
標題: 關于TOFD對比試板反射體的問題
          其中的窄槽、和單獨4mm深的Φ2孔怎么用？
          
標準中設計對比試板的基本思路及原理是什么，比如不同深度使用不同的孔徑的具體計算還是實驗還是如何的搞出來的孔徑。
          

          
作者: luolang1314    時間: 2015-4-20 11:30
          
 本帖最后由 luolang1314 于 2015-4-23 08:27 編輯 
          

          
窄槽主要是驗證底面盲區深度，實際底面盲區比3mm要小。也可以作為驗證軸偏離底面盲區使用，當然和理論計算常常要求的1mm是有區別的。
          
4mm深孔，可能是作為驗證薄板表面盲區使用，實際厚板工藝當中，根據普通的TOFD探頭，上表面盲區約為6mm-10mm，所以這個孔的信號是很難捕捉得到（即使拉近PCS，當然采用特殊的TOFD探頭或者相控陣探頭，去除直通波的情況下，有可能上表面盲區可能達到極限值4mm）。
          

          
作者: hance12    時間: 2015-4-20 13:37
          
補一個圖，不知道反射體的設計原理，以及具體每個都如何使用，什么情況下使用
          
作者: hance12    時間: 2015-4-22 13:18
          
哪位大俠告訴下，自己頂下貼
          
作者: 糟老頭子    時間: 2015-4-22 16:20
          
 本帖最后由 糟老頭子 于 2015-4-22 16:33 編輯 
          

          
不同深度采用不同孔徑應該與聲束在深度方向的空間分辨率不同有關，隨著深度減小，空間分辨率在變差，所以孔徑也在增加。




          

          

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