ghost 發(fā)表于 2014-8-25 20:24
你好,能否發(fā)一份資料共同學(xué)習(xí),郵箱
糟老頭子 發(fā)表于 2014-8-27 23:52
謝謝樓主的資料。這種技術(shù)看起來像相控陣的動態(tài)深度聚焦掃查(DDF)
diego123l 發(fā)表于 2015-3-6 11:14
可以給我發(fā)一份嗎?學(xué)習(xí)一下
浩瀚 發(fā)表于 2015-2-12 17:27
我想問您一個問題。
對于相控陣的接收是不是相當(dāng)于總共接收了N次 ?
wpfnichol 發(fā)表于 2015-12-24 14:05
樓主您好,最近初識相控陣,能否分享一下學(xué)習(xí)資料,,謝謝!
MENG 發(fā)表于 2015-12-29 09:05
請教一下,TFM在Focal Law里需要設(shè)定聚焦深度嗎
M2M_NDTengineer 發(fā)表于 2015-12-29 15:00
不需要,TFM是一發(fā)全收模式
MENG 發(fā)表于 2015-12-30 04:43
TFM只是在近場區(qū)內(nèi)聚焦還是可以在任意深度聚焦或者全部聲程內(nèi)聚焦?
一發(fā)全收是什么意思,一個晶片發(fā)射 ...
M2M_NDTengineer 發(fā)表于 2015-12-30 15:12
在它的顯示范圍里,每個像素點(diǎn)都是聚焦的,這就叫全聚焦。
是一個晶片發(fā)射全部64個晶片采集形成一個子集 ...

MENG 發(fā)表于 2015-12-31 07:25
能貼個TFM的聲場示意圖嗎,類似這樣的
kucaolianggen 發(fā)表于 2016-6-12 16:36
麻煩發(fā)給我一份,謝謝!
同時請教一下,是否可以檢測到表面裂紋!
| 請樓主分享一份 [email protected] |
yanyingjuanli 發(fā)表于 2017-3-29 17:21
直接可獲得缺陷的形狀,無需太多經(jīng)驗(yàn)判斷。能否發(fā)一份資料介紹,謝謝!郵箱:
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