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          標題: 如何測定焊縫檢測耦合補償 [打印本頁]

          作者: 丁偉臣    時間: 2014-3-27 22:13
          標題: 如何測定焊縫檢測耦合補償
          平時在N個單位進行審核發現大部分UT檢測人員對于此值的理解停留在考試老師講的3或4dB,很少有人進行真正的測量。在此請大家曬曬你所認為的方法,最后我來公布我們目前采用的簡易方法,及其適用限制條件!

          作者: 楓林晚    時間: 2014-3-28 10:02
          最簡便的是測出厚度相等或相近的試塊和工件端角回波高度db差(聲程S>1N),即為表面耦合補償
          作者: 丁偉臣    時間: 2014-3-28 12:31
          楓林晚 發表于 2014-3-28 10:02
          最簡便的是測出厚度相等或相近的試塊和工件端角回波高度db差(聲程S>1N),即為表面耦合補償 ...

          謝謝參與,有待研究!

          作者: 劉恩凱    時間: 2014-3-31 20:49
          其實有的時候,我們進行檢測的時候往往參考標準或者教材進行硬性的規定,而不是根據實際檢測情況進行分析后采用適當的方法。有的時候,對于標準要求的提升db值,我們很少去懷疑也很少去研究為什么。對于一般檢測人員來說,可能唯一答案就是“嚴格按照標準要求進行”。當然,這也是正確的做法,有理可具,不被動。同樣的問題:聲束能量的衰減量也很少去測量或者忽略不計。還比如,關于掃差靈敏度,有的標準要求提高6db,AWS D1.1根據聲程大小,有的需要提高14db,為什么?
          關于表面耦合補償,個人認為取決于表面的粗糙度。說直白就是試塊表面粗糙度和工件表面粗糙度的差值,以試塊表面粗糙度為基準,測試出不同表面粗糙度的補償值,這樣方便實際檢測時候進行表面耦合補償。另外,標準對表面粗糙度有最低要求。粗糙度值比試塊每增加1,表面補償也增加1db。
          作者: 丁偉臣    時間: 2014-4-1 20:14
          劉恩凱 發表于 2014-3-31 20:49
          其實有的時候,我們進行檢測的時候往往參考標準或者教材進行硬性的規定,而不是根據實際檢測情況進行分析后 ...

          那如何測量呢?

          作者: 77k7777    時間: 2014-4-1 20:58
          打磨一下表面,用直探頭測試兩種表面的底波差,考慮到表面狀態與波長的關系,例如橫波為2.5M,直探頭宜采用5M。丁老師,這樣可以嗎?
          作者: 丁偉臣    時間: 2014-4-2 08:03
          77k7777 發表于 2014-4-1 20:58
          打磨一下表面,用直探頭測試兩種表面的底波差,考慮到表面狀態與波長的關系,例如橫波為2.5M,直探頭宜采用 ...

          測量時必須采用相同的探頭,因為接觸狀態不同。該方法不可取!

          作者: 劉恩凱    時間: 2014-4-2 10:55
          丁偉臣 發表于 2014-4-1 20:14
          那如何測量呢?

          http://wenku.baidu.com/view/cd1a3282d0d233d4b14e699c.html該篇文章值得看看,還望丁老師明鑒

          作者: jxtjndt    時間: 2014-4-2 12:02
          本帖最后由 jxtjndt 于 2014-4-2 12:05 編輯

          選2個規格相同的斜探頭組成一發一收,分別在對比試塊和被檢工件母村上做DAC曲線進行比較。
          作者: 丁偉臣    時間: 2014-4-2 20:29
          jxtjndt 發表于 2014-4-2 12:02
          選2個規格相同的斜探頭組成一發一收,分別在對比試塊和被檢工件母村上做DAC曲線進行比較。 ...

          有點意思,但具體如何執行呢?

          作者: 丁偉臣    時間: 2014-4-2 20:46
          劉恩凱 發表于 2014-4-2 10:55
          http://wenku.baidu.com/view/cd1a3282d0d233d4b14e699c.html該篇文章值得看看,還望丁老師明鑒
          ...

          該文章來自國外翻譯,具有一定的借鑒意義!
          但與日常操作關系不大!

          作者: jxtjndt    時間: 2014-4-2 23:27
          丁偉臣 發表于 2014-4-2 20:29
          有點意思,但具體如何執行呢?

          1 根據工件規格,依據標準選2個晶片尺寸、頻率、角度基本相同的斜探頭(其中一個為檢測用探頭),測定并記錄探頭的各項參數。
          2 將儀器調為一發一收模式。
          3 將2個探頭晶片反方向直接接觸,前后移動,找到最高波,調節儀器的“零偏”,將最高波移出屏幕0點。
          4 在儀器上直接輸入已測定好的探頭角度。
          5 選用與被檢工件材質基本相同的標準試塊或對比試塊,試塊厚度最好能小于或等于工件厚度(此試塊不一定非要用CSK-ⅡA或ⅢA試塊,只要試塊材質及表面粗糙度相同,厚度合適、幾何尺寸滿足要求就可采用)將試塊放平,2探頭相對(此時可用一鋼板尺靠住2個探頭,使之能保持在同一直線上),并使探頭沿鋼板尺前后移動,分別找到1倍跨距、2倍跨距的底面反射波,記錄并保存好此DAC曲線。
          6 在檢測現場,調出上述DAC曲線,利用上述方法找到工件1倍跨距底面反射波,用閘門罩住此反射波,就會顯示出DAC±? dB,此讀數既為偶合補償。此數值為表面偶合補償、底面反射損失、材質衰減損失三者之合。

          作者: luolang1314    時間: 2014-4-3 06:09
          本帖最后由 luolang1314 于 2014-4-3 06:20 編輯

          一般情況下,很少有人測耦合補償值;個人覺得,可以考慮用直探頭在試塊上調好基準靈敏度(一次底波80%),不改變增益的情況下在工件母材等厚處,測定一次回波高度,依據回波高度確定補償數值(4dB以內可以考慮不加補償);如果工件與試塊不等厚,再在測定衰減的情況下,通過計算進行比較;或者將等聲程(工件板厚)處試塊波高(多次底波形成曲線類似于DAC)與工件的一次底波進行比較。
          如果斜探頭,則可參考楓林晚提供過的辦法,用試塊與工件等聲程處端角反射波高進行比較。(這個沒有實際操作過,個人覺得用直探頭簡單測定耦合補償就可以了)
          作者: 丁偉臣    時間: 2014-4-4 18:13
          jxtjndt 發表于 2014-4-2 23:27
          1 根據工件規格,依據標準選2個晶片尺寸、頻率、角度基本相同的斜探頭(其中一個為檢測用探頭),測定并 ...

          該方法你想過沒有,我們的你所說的DAC是直線還是曲線,如何確定比較值?有點難度!

          作者: manzi    時間: 2014-4-7 06:19
          學習了
          作者: 劉恩凱    時間: 2014-4-8 09:59
          請給出答案啊 ,丁老師
          作者: qwe1362005    時間: 2014-5-4 08:40
          焦急等待中,丁老師請公布答案可好,學習一下

          作者: 丁偉臣    時間: 2014-5-4 17:18
          等DAKKS現場審核后,估計5月底吧
          作者: 河北阿軍    時間: 2014-5-5 07:55
          期  待   答   案
          作者: 楓林晚    時間: 2014-5-5 21:39
          可以做一個對比試塊進行對比。試塊材質可以用50mm左右厚的Q235B或者其他材質鋼板,將鋼板線切割成寬度為40mm,長度約為200mm,在10mm、30mm深度的位置鉆fia3的橫通孔,用磨光機將試塊表面一面打磨平整。然后在RB試塊上做好DAC曲線,再到對比試塊上對相應深度的孔進行波高對比,比DAC低的db數,就是表面耦合補償。
          作者: 孫賢明    時間: 2015-4-24 17:36
          丁偉臣 發表于 2014-4-4 18:13
          該方法你想過沒有,我們的你所說的DAC是直線還是曲線,如何確定比較值?有點難度!
          ...

          我以前也是那么做的,利用1次波和2次做成DAC,開成TCG模式,回波調成滿屏80%讀數,再將線調至滿屏80%讀數,兩者讀數差就是耦合補償和傳輸補償的總和,有些設備可以直接讀取波高和曲線的讀數,就沒有調成TCG模式手動讀數了。還請丁工指點。





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