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          遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)資訊網(wǎng)
          
標(biāo)題: 一電廠水冷壁管子用探頭為5Pφ6測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量，實(shí)測(cè)值2.0mm [打印本頁(yè)]
          

          
作者: wangjiabao    時(shí)間: 2013-11-6 11:15
          
標(biāo)題: 一電廠水冷壁管子用探頭為5Pφ6測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量，實(shí)測(cè)值2.0mm
          丁老師你好，現(xiàn)有一案例如下：
          

          
一電廠水冷壁管子，實(shí)際壁厚5.7mm，用探頭為5Pφ6測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量，實(shí)測(cè)值2.0mm，換了幾臺(tái)設(shè)備測(cè)量結(jié)果都一樣，在該處用切割機(jī)機(jī)械切割，用卡尺測(cè)量壁厚為5.6mm,懷疑是分層缺陷，用著色滲透（方法IIc-d)進(jìn)行探傷,探傷前未進(jìn)行酸洗，未發(fā)現(xiàn)缺陷，且該處不在焊接接頭區(qū)域內(nèi)，而且是直管段（我想不是高應(yīng)力區(qū)域），不知道這是為何？
          
請(qǐng)老師幫忙指點(diǎn)一下。
          
謝謝
          

          

          
作者: wangjiabao    時(shí)間: 2013-11-6 11:28
          
正常。
          

          
作者: liurong    時(shí)間: 2013-11-6 14:59
          
用斜探頭檢測(cè)。
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-11-6 16:21
          
請(qǐng)問(wèn)在測(cè)量時(shí)，有無(wú)進(jìn)行在測(cè)量點(diǎn)附近掃查？結(jié)果又是如何？
          
作者: wangjiabao    時(shí)間: 2013-11-6 17:50
          
測(cè)量點(diǎn)周圍壁厚正常，非正常范圍大概φ10mm.
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-11-6 22:33
          
測(cè)厚儀是否具有波形功能？沒(méi)有的話找臺(tái)探傷儀插這個(gè)探頭看看波形。可能是缺陷的回波，測(cè)厚儀誤以為底面回波測(cè)出了錯(cuò)誤的數(shù)值。
          
作者: luolang1314    時(shí)間: 2013-11-7 07:05
          

          糟老頭子 發(fā)表于 2013-11-6 22:33
          
測(cè)厚儀是否具有波形功能？沒(méi)有的話找臺(tái)探傷儀插這個(gè)探頭看看波形。可能是缺陷的回波，測(cè)厚儀誤以為底面回波 ...

          
這種可能性非常大。最好換視頻波形顯示的測(cè)厚儀觀察一下波形。管子內(nèi)部缺陷和分層、偏析、晶粒度等都會(huì)影響測(cè)厚數(shù)據(jù)，另外，耦合不好也會(huì)影響結(jié)果
          

          
作者: 高飛    時(shí)間: 2013-11-7 07:50
          
學(xué)習(xí)了{(lán):soso_e163:}
          
作者: glee    時(shí)間: 2013-11-7 19:09
          
哪里規(guī)定有測(cè)厚儀找缺陷？
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-11-7 19:29
          

          luolang1314 發(fā)表于 2013-11-7 07:05
          
這種可能性非常大。最好換視頻波形顯示的測(cè)厚儀觀察一下波形。管子內(nèi)部缺陷和分層、偏析、晶粒度等都會(huì)影 ...

          
{:soso_e183:}
          
作者: wjjxuey    時(shí)間: 2013-11-8 09:56
          
Glee：不是測(cè)厚儀找缺陷，是缺陷擋住了測(cè)量聲束的傳播，造成了測(cè)量結(jié)果的偏差。。。
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-11-8 16:13
          
該情形正常，主要可能在聲束線上存在一小分層缺陷，其形成一定幅值的回波，被儀器形成讀數(shù)。建議采用帶波形顯示的測(cè)厚儀進(jìn)行重新測(cè)量，比較缺陷回波與底波的變化即可分辨！
          
作者: 阿琛瑞祥    時(shí)間: 2013-11-9 11:41
          
學(xué)習(xí)了，待樓主給出原因。謝謝。
          
作者: yuwen    時(shí)間: 2013-11-9 12:58
          
學(xué)習(xí)了，謝謝。
          
作者: manzi    時(shí)間: 2013-11-10 08:27
          
{:soso_e163:}
          
作者: 郭嘉明    時(shí)間: 2013-11-12 08:09
          
學(xué)習(xí)了
          
作者: zongjian6498    時(shí)間: 2013-11-12 08:21
          
換 Ф   不一樣的探頭試試
          
作者: wangjiabao    時(shí)間: 2013-11-12 08:55
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-11-8 16:13
          
該情形正常，主要可能在聲束線上存在一小分層缺陷，其形成一定幅值的回波，被儀器形成讀數(shù)。建議采用帶波形 ...

          
謝謝丁老師的建議。
          
作者: 福州張    時(shí)間: 2013-11-13 11:57
          
本人意見(jiàn)，僅供參考。
          
一、首先，落實(shí)一下側(cè)厚儀及探頭本身有沒(méi)有問(wèn)題，校驗(yàn)一下。
          
二、你用PT來(lái)檢測(cè)，PT屬于表面檢測(cè)，而被檢工件內(nèi)部的分層缺陷，用PT如何檢測(cè)的出來(lái)呢？除非是“分層到工件表面的分層”用PT能檢測(cè)得出來(lái)。
          
三、如果測(cè)厚儀及探頭本身沒(méi)問(wèn)題，那可能是被檢工件內(nèi)部分層。
          
四、圍繞發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的測(cè)點(diǎn)周圍也用測(cè)厚儀測(cè)厚一下，看看什么情況。
          
五、作為輔助手段，用UT儀也檢測(cè)一下。
          





          

          

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