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標題: 關于曲面檢測的耦合補償 [打印本頁]
          

          
作者: jun200407    時間: 2013-7-12 11:45
          
標題: 關于曲面檢測的耦合補償
           本帖最后由 jun200407 于 2013-7-12 11:47 編輯 
          

          
4730說檢測面是曲面時，應采用CSⅢ標準試塊來測定由于曲率不同而引起的耦合損失。
          
例如，我檢測Φ200的軸，那補償它的曲面耦合損失，具體應該如何操作，謝謝
          

          
作者: ?_拒絕再玩    時間: 2013-7-12 13:15
          
沒做過 ，不知道。 
          
作者: 澄江福弟    時間: 2013-7-18 11:41
          
18dB （API）
          
作者: 春華秋實    時間: 2013-12-16 12:53
          
{:soso_e100:}
          
作者: jzgyr    時間: 2013-12-17 10:52
          
采用高級仿真軟件（例如CIVA）算一下！
          
作者: htckelina    時間: 2013-12-17 15:31
          
 本帖最后由 htckelina 于 2013-12-17 15:42 編輯 
          

          
找出75-0，75-100兩試塊，使探頭耦合，最好有壓塊，比較一次底波的分貝差值，就是曲率補償值。
          
"R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍”的提法和5.1.6.2 C)的說法大體一樣，我認為是錯的。剛好與ASME相反。
          

          
作者: 低調、行走    時間: 2013-12-18 10:08
          
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作者: 天行建-榮探    時間: 2013-12-18 10:36
          
{:soso_e100:}來學習了
          
作者: 236457036    時間: 2014-1-1 18:49
          

          楓林晚 發表于 2013-12-18 08:30
          
個人對CSIII試塊的功用表示疑惑。檢測有圓柱面的鍛件一般在CSI試塊上做好DAC，然后測試曲率補償。問題是CSI ...

          
此處的CSIII試塊用于在于，先用CSI型試塊調靈敏度，再用厚度差不多的CSIII，看低波降低多少，在適當補償。原在在于CSIII試塊補償的是發射入工件后的能量大致一樣。而缺陷一般用一次低波之前的波形計算，補償之后對于缺陷的定量影響不大。而軸型工件的兩曲面，與CSIII一曲面，不同之處，低波的高低有關，與缺陷的定量無關
          





          

          

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