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標題:
關于相控陣B型圖像--缺陷分析
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作者:
Ansan
時間:
2013-5-30 12:01
標題:
關于相控陣B型圖像--缺陷分析
目前相控陣資料在對缺陷分析時，沒有很實際的分析例子，只是對典型人工缺陷描述，成像模式，并沒有將分析缺陷過程公布?。『诡仯。?br /> 最近本人研究相控陣檢測了板--板T型和Y型的焊縫..
發現了許多的問題，總結了在檢測時應注意的問題；
這里我想說下，在使用相控陣扇形掃查時，我們使用多角度、多條掃描線同時進行一定范圍和區域掃查時；
問題1：既然是多角度掃查，在不規則的焊縫形狀下，勢必存在聲束在焊縫中的多反射，造成許多的相關圖示；我們應該怎么去區分呢？、
問題2: 怎么樣去選擇相控陣直探頭靈敏度
問題3：相控陣檢測時，綜合參數的考慮!
大家先討論一下！回帖必回??！{:soso_e183:}
實驗心得，近期公布！??！
作者:
糟老頭子
時間:
2013-5-31 21:50
等你公布實驗結果咯
一些問題還得標準來規定了
作者:
xxdx512
時間:
2013-6-4 13:25
希望盡早能看到您的研究成果~~
作者:
祝你開心
時間:
2013-8-20 17:52
我是這么想的，雖然你是同時設置了兩組掃查參數，但是儀器其實只同時處理一組數據，然后快速在兩個法則中間切換，因而你說的不同法則互相影響的情況應該是不存在的。
個人猜想……
作者:
jorsonsh
時間:
2013-9-13 09:03
{:soso_e163:}
作者:
為人民服務
時間:
2013-11-23 14:46
{:soso_e163:}
作者:
chwk1984
時間:
2015-5-30 21:47
期待中……
作者:
迷忙的我
時間:
2015-8-28 11:31
等待結果中。。。。
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