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標題: 探頭的入射點，真的在探頭上么？ [打印本頁]
          

          
作者: 李濟科    時間: 2013-3-10 06:28
          
標題: 探頭的入射點，真的在探頭上么？
          如題。
          
作者: ndt066    時間: 2013-3-10 08:09
          
?
          
詳細！
          
沒太明白。
          
作者: 釣魚翁    時間: 2013-3-10 08:52
          
{:soso_e179:}
          
作者: 劉恩凱    時間: 2013-3-10 09:27
          
我感覺我們在計算的時候都忽略了耦合劑層的影響，實際上，滿足波形轉換的界面是在耦合劑層與被檢工件表面所發(fā)生的反射和折射現(xiàn)象，在講探頭面積時，提到有效探頭面積的概念，那么，我個人感覺應該再提出有效探頭入射點，以及研究與實際入射點之間的關系。個人認為，有效探頭入射點比實際入射點稍微前移一點，李老，您看那？晚輩的淺見！
          
作者: 李濟科    時間: 2013-3-10 10:41
          
 本帖最后由 李濟科 于 2013-3-10 18:48 編輯 
          

          
    謝謝劉先生參與討論。我常形容這個問題，類似個成語刻舟求劍。探頭上的標識的入射點，實際上是過該點，通過耦合層，作工件表面的垂線，找到與工件表面的交點，或者說，是掃查面上的相應點，那才是真的進入工件表面的入射點(請原諒，話說羅唆了)。如果聲束向左下發(fā)射，而探頭上真的入射點，應在實測入射點的右方，兩點有微小差距p，p與耦合層厚度和聲束傾斜角度有關。不知這樣理解對否？
          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-10 14:07
          
我也這么認為，但您要說明說明呢？
          
作者: 天才無憂    時間: 2013-3-10 15:12
          
真正的入射點其實是在工件表面，我們實際測得的入射點就是工件表面的。
          
不過耦合劑厚度都這么小，沒必要這么較真吧。
          
作者: 飛馬踏燕    時間: 2013-3-10 16:38
          
加入討論
          
作者: 飛馬踏燕    時間: 2013-3-10 16:44
          
這個問題理論上可以研究，在實際工作中只要操作得當耦合劑層的影響可以忽略不計。
          
作者: 郭嘉明    時間: 2013-3-11 08:17
          
同意樓上觀點
          
作者: 劉恩凱    時間: 2013-3-11 10:51
          

          天才無憂 發(fā)表于 2013-3-10 15:12 
          
真正的入射點其實是在工件表面，我們實際測得的入射點就是工件表面的。
          
不過耦合劑厚度都這么小，沒必要這 ...

          
請問你實際測得的入射點在工件表面上，是怎么測得的？
          

          
作者: nde7225030    時間: 2013-3-11 13:43
          
這個問題比較復雜。當探頭在試塊上測試時的耦合劑層厚度與在工件上探測時的厚度一致時，情況會是怎么樣，厚度不一時，又會怎么樣。誤差可能不同。
          
作者: xiaowang    時間: 2013-3-11 14:50
          
{:soso_e100:}
          
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-11 15:07
          
入射點的意義：用來按聲程和角度進行顯示的定位。
          
嚴格講，入射點并不是一個理論的點，因為聲束具有一定的寬度，從而，實際入射點的具體位置并不重要。
          
在測量中為了簡化，我們僅假設回波來自聲束軸向上，故此時可采用簡單的方法進行軸線中心線的入射點測量。
          
作者: andas    時間: 2013-3-11 15:22
          
贊同丁老師的意見
          
作者: manzi    時間: 2013-3-11 15:57
          
謝謝李老師和丁老師
          
作者: zyylrq    時間: 2013-3-12 10:22
          
{:soso_e163:}
          
作者: zjgfr001    時間: 2013-3-12 12:46
          
探頭晶片發(fā)出的聲波不是一條直線，而是一束波。檢測時為了計算和定位方便而近似看成一直線在傳播，入射點不在探頭上，而是在被檢工件上。
          
作者: agzcfo    時間: 2013-3-12 15:08
          
{:soso_e163:}
          
作者: 李濟科    時間: 2013-3-13 10:42
          
    通常說的“（斜）探頭的入射點” ，是指有耦合劑的情況下，實測的入射點，一般是在IIW或CSK-1A試塊上，在對應R100圓柱曲面上測定的，即根據(jù)試塊上R100圓柱的圓心標定的。入射點雖然標在探頭上，實則代表工件上相應的入射點。我常稱這種方法為“刻舟求劍” 。所以，實測的探頭的入射點，并不是探頭(楔抉) 傾斜縱波聲軸的真正入射點，或者說，實測的探頭入射點，雖然標識在探頭上，但實際并不在探頭上。假如聲束向左下傾斜，真正入射點應在實測探頭入射點的右側，二者有很小偏差P，P的大小與聲束傾角和耦合層厚度有關。
          
    討論這個問題的目的，主要想探討耦合薄層，對傾斜入射縱波折射是否有影響，是否影響缺陷準確定位。
          

          
作者: 心遠路遙    時間: 2013-3-13 10:54
          
同意{:soso_e163:}
          
作者: Endlesslove    時間: 2013-3-13 13:19
          
{:soso_e179:}
          
作者: zyylrq    時間: 2013-3-13 14:11
          
{:soso_e163:}
          
作者: zongjian6498    時間: 2013-3-13 17:22
          
太高深了
          
作者: woshibaichi7pm    時間: 2013-3-13 18:50
          
學習。。。。。。
          
作者: zcy001zcy    時間: 2013-3-14 08:04
          
沒看明白，題目在哪？
          
作者: yxf    時間: 2013-3-14 09:59
          
贊一個的啦！！！
          
作者: 心心    時間: 2013-3-14 21:23
          
學習yixia
          
作者: wzs2648    時間: 2013-3-15 14:18
          
實際上入射點是變化的，當探頭磨損后，入射點前移或后移，在實際探傷過程中，我們校準探頭的K值變化，也可發(fā)現(xiàn)前沿的變化，只不過前沿變化較小就是了
          
作者: zhishixiang    時間: 2013-3-16 19:50
          
個人感覺 應該像折射
          
如圖所示的一樣
          
[attach]5313[/attach]
          

          
作者: 張s    時間: 2013-3-16 20:00
          
{:soso_e163:}嗯哪，說的有道理
          
作者: join24h    時間: 2013-3-17 16:47
          
這個有點不好理解，
          
對于常用厚度鋼板檢測忽略了。。
          
作者: 德德    時間: 2013-3-19 07:37
          
受益匪淺，真正的認識了入射點。很好，很好。
          
作者: 青島檢測    時間: 2013-3-19 08:06
          
同意{:soso_e179:}
          
作者: kgkevin    時間: 2013-3-19 08:18
          
學習一下
          
作者: 心遠路遙    時間: 2013-3-20 12:14
          
{:soso_e179:}
          
作者: nnn    時間: 2013-3-20 13:42
          
{:soso_e103:}
          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-23 20:11
          
@luolang1314 
          
找到帖子了，但這個帖子討論的“入射點和耦合劑層的關系”和我的問題不一樣
          
我實驗的耦合劑種類和厚度基本上是一樣的，但是前沿卻相差如此大，“虛擬”的入射點應該是和材料種類相關，而不是單純探頭的一個參數(shù)。 
          
作者: 焱焱    時間: 2013-5-24 12:09
          
學習一下
          
作者: 艾@尚┳→冄    時間: 2013-5-24 16:22
          
無損檢測群17112361
          
作者: 青島檢測    時間: 2013-5-25 08:09
          
{:soso_e179:}
          
作者: qianjunchi    時間: 2013-5-25 08:21
          
學習下下！
          
作者: 子善    時間: 2013-5-26 21:51
          
沒有搞明白，探討這個問題的必要性是什么？
          
作者: 1244844404    時間: 2014-1-23 09:04
          
{:soso_e163:}
          
作者: 春華秋實    時間: 2014-1-26 09:53
          
向各位學習了
          
作者: 88518    時間: 2014-2-4 00:33
          
老李過慮，入射點應該在工件表面，耦合層可以不考慮，否則測量的誤差就大了。
          
作者: ngdyp    時間: 2014-2-6 20:35
          
在工件表面
          
作者: guoguo    時間: 2014-2-8 15:19
          
{:soso_e163:}
          
作者: 〆騎豬看夕陽︷    時間: 2014-2-11 10:34
          
新手前來學習
          
作者: 阿東    時間: 2014-2-19 08:36
          
不錯，學習了。
          
作者: 楊會敏    時間: 2018-2-23 14:30
          
探頭上應該是出射點，它也不是一個點，而是一個區(qū)域
          
作者: 楊會敏    時間: 2018-2-23 14:32
          
入射點是聲束從探頭出來后通過耦合層后到達工件表面的那部分區(qū)域
          
作者: hao010ye    時間: 2018-2-26 15:50
          
對于水浸法影響大點




          

          

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