mb198880808 發(fā)表于 2012-12-14 15:37 我的想法是可以把基體做的厚一點(diǎn),然后從基體一側(cè)檢測(cè)結(jié)合處的缺陷;但是又一想,涂層中即使有缺陷也不可能 ...