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標題: 筒形鍛件檢測中，如何測定由缺陷引起的底波降低量 [打印本頁]
          

          
作者: 585858    時間: 2012-12-12 22:10
          
標題: 筒形鍛件檢測中，如何測定由缺陷引起的底波降低量
               丁老師：
          
              1. 在筒形鍛件檢測中，Φ900／Φ700×500，探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在周向（凸面）和端面檢測。探頭在周向檢測，檢測面和底面均為曲面，材質衰減系數如何測定？
          
              2.探頭在端面檢測，底面反射面不夠大，材質衰減系數如何測定？
          
              3.在檢測時，周向和端面均發現有超標缺陷（不是同一個），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何測定？
          
             4.雙晶直探頭是否可測定由缺陷引起的底波降低量如何測定？
          

          
作者: 糟老頭子    時間: 2012-12-13 09:54
          
一次底波減去二次底波的DB差除以2倍板厚




          

          

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